详细摘要： 测厚仪标准片又名膜厚仪校准片，专业用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。

详细摘要： XRF2000能提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能*,而且价钱*，同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。