详细摘要： Hot Disk的测量原理是基于Silas Gustafsson博士发明的瞬变平面热源法（Transient Plane Source Method、TPS）。

详细摘要： 差热热量分析仪DSC6220可用于测量材料的熔点、玻璃化温度、结晶度、固化度、纯度、比热、反应动力学、热稳定性、相转变温度等参数。

详细摘要： 动态机械分析仪对固体试样施以弯曲、拉伸、剪切等变形，然后根据其变形量以及反应延迟计算试样的弹性模量。能灵敏地检测到一般热分析方法无法捕捉的高分子材料的局部松弛等...

详细摘要： 离子色谱仪目前为电工协会(IEC)所分析无卤素材料(Halogen Free)的认可分析仪器。亦可添加部份配件，做全氟辛烷硫磺酸(PFOA/S)等分析，以节省设...

详细摘要： 全新机型SEA1000AⅡ系列XRF无需液态氮的成本、无需增加工作量的分析装置，可以省去繁琐的样品检测前处理时间，以提供更简便、迅速的分析。如需了解更多，：

详细摘要： SEA1000系列XRF是Z、Z稳定的桌上型电子式冷却XRF设备，已广泛被运用在RoHS/WEEE的风险管控，已获各电子、电机大厂使用，符合SONY STM-0...

详细摘要： SEA1000A系列ED－XRF，无需液态氮的成本、无需增加工作量的分析装置，可以省去繁琐的样品检测前处理时间，以提供更简便、迅速的分析。如需了解更多，：

详细摘要： SEA1200VX桌上型X射线荧光分析仪凝聚了Z*技术，适用于WEEE&RoHS、ELV分析及其他专业分析的能量色散型如需了解更多，：

详细摘要： Alpha8800是目前提供体积Z小、识别速度Z快、功能Z多、精度Z高，不需要做前处理，即可直接对原始样品进行检测，除了RoHS有害重金属元素的检测之外，还可以...

详细摘要： Alpha6500是应用Z为广泛的便携式检测设备，非常适合做进料的快速初步筛选、模拟海关检验方式做成品出货检测、产线巡检、供应商稽核等，受到各大制造厂商及检测机...

详细摘要： *采用*真空方式的手持式能量射散X射线荧光分析仪，能在6秒内达到100bar以下的真空度，立即可以与真空帮浦分离，不需要随时接上真空帮浦，真空度可维持4-8小时...

详细摘要： SFT9100X射线荧光厚度测理仪适用于各种样品，从较厚的样品（机械零部件）之大型线路板（PCB）及电子元器件等

详细摘要： SFT9200系列作为SFT系列的新产品，不仅承继了其操作性和依赖性并存的传统，而且又得到进一步深化改良，成为应用更加广泛的荧光X射线镀层厚度测量的"新标准仪器...