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Waveline Toposcan
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访问次数：216更新时间：2022-08-02 11:28:40

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Waveline Toposcan 技术亮点Toposcan 是检测缸孔精细加工面（如珩磨面）的理想检验系统，测量速度快，测量结果精确可靠。 由于测量仪的探头结构紧凑，所以既可用于光学表面检验，也可用于接触式表面粗糙度测量，柔性。–重量轻，可移动使用–符合人体工程学要求，操作简便–缸孔不同直径时调整方便–具有高达 210 倍放大倍率的高光学分辨率，适用于极精细结构–自动确定珩磨角度
产品介绍

Waveline Toposcan 技术亮点

Toposcan 是检测缸孔精细加工面（如珩磨面）的理想检验系统，测量速度快，测量结果精确可靠。 由于测量仪的探头结构紧凑，所以既可用于光学表面检验，也可用于接触式表面粗糙度测量，柔性。

– 重量轻，可移动使用

– 符合人体工程学要求，操作简便

– 缸孔不同直径时调整方便

– 具有高达 210 倍放大倍率的高光学分辨率，适用于极精细结构

– 自动确定珩磨角度


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