美国MTI二维-激光位移传感器 返回列表页

美国MTI二维-激光位移传感器简介：

       二维激光位移感应器ProTrakTM 2D/3D 系列（PT-G系列）在不同的应用中都有非常好的性能 ProTrak G 系列产品，体积非常小，可用于非常狭小的空间。该系列 2D/3D 传感器采用 CMOS 技术， 可以达到很高的分辨率和测量精度，并且测量速度高达 4,000 Hz,。它集成了内置设定显示，是一款专业的 高精度测量工具，我们还提供了软件开发包，用千兆以太网做传输，方便用户做集成。测量范围从 36mm 到 400mm。

特点：

1、达到千兆速度；

2、SUPER FAST 每秒可达4,000帧；

3、高达 3.3 μm 分辨率；

4、对于黑色和光亮的表面进行了优化；

5、黑暗的表面和光亮的表面都能达到很高的测量精度和重复精度；

6、可用NI LabVIEW编程

在不同的应用中都有非常好的性能

A quad B 编码器输入可以用于同步测量：

焊接、厚度、位移、翘曲、台阶高度、偏转、尺寸测量、角度测量、平坦度、对齐、轮廓、胶珠检测、填充高度、拉伸/收缩、结构动力、判断是否存在及产品体积。Software Interface：

购买产品都会提供DLL 数据库；

Gige接口允许使用NI Labview可视化软件集成。

美国MTI二维-激光位移传感器技术指标：

线激光测量原理

ProTrak G 使用三角测量法原理获得被测物表面的二维轮廓尺寸数据。激光发射器射出发散的激光线，它具有X起始范围和X的终止范围（宽度范围），激光线照射到被测物上，漫反射回来通过镜头在CMOS镜头阵列上。

CMOS线图像然后通过内置的电子和X-Z阵列输出处理，让其数据可以高达4KHz帧/S的速度在应用软件上显示。沿着被测物移动探头，可以让软件生成物体的3D图像。编码器输入使得X-Z轮廓数据得以同步。