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产品简介
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详情介绍：
SCM-100 具有将预编程电流施加到 SiC 采样晶体管的内置二极管的功能。通电时电流不流动的部分（缺陷）不发光（或微弱），因此可以用安装在显微镜上的相机拍摄并发现缺陷。用显微镜放大 SiC 样品的表面，可以通过摄像头监测可见区域的发射，以原位观察缺陷的生长或收缩。图像可以以*佳间隔拍摄并保存。可选的 Peltier 冷却单元将 SiC 器件的样品台温度保持在 80°C 以下
特征
- SiC样品的显微镜图像用相机拍摄并实时输出到LCD
- SD卡*多可保存999张照片，拍摄间隔为3秒至24小时
- 输出电压、输出电流、状态信息*快可采样0.1秒
- 一台PC*多可以控制五个电源，可以保存数据。
- 输出到约17英寸LCD时，观察倍率约60倍至约200倍
- SiC样品缺陷生长的原位观察
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