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SWXWY-600型三维显微应变测量系统
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访问次数:221更新时间:2022-08-19 17:17:43

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产品简介
SWXWY-600型*材料高低温三维显微应变测量系统——光学显微镜和DIC数字图像相关技术的结合,可以满足纳米级精度测量需求。SWXWY-600型*材料三维显微应变测量系统系统弥补了传统设备无法进行微小物体变形测量的不足,成为微观尺度领域变形应变测量的一个有力工具。该设备对于*材料各种参数的测量,如:杨氏模量、泊松比、弹塑性,微观应变等,对于材料的研究有着重要作用。
产品介绍

SWXWY-600型*材料高低温三维显微应变测量系统

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SWXWY-600型*材料高低温三维显微应变测量系统——光学显微镜和DIC数字图像相关技术的结合,可以满足纳米级精度测量需求。SWXWY-600型*材料三维显微应变测量系统系统弥补了传统设备无法进行微小物体变形测量的不足,成为微观尺度领域变形应变测量的一个有力工具。该设备对于*材料各种参数的测量,如:杨氏模量、泊松比、弹塑性,微观应变等,对于材料的研究有着重要作用。

二、产品应用应用范围

- 微观形貌、应变分析(微米级、纳米级)

- 材料试验(杨氏模量、泊松比、弹塑性的参数性能)

- *材料(CFRP、木材、内含PE的纤维、金属泡沫、橡胶等)

- 均匀和非均匀材料变形过程中的行为分析

三、技术优点

-  获得全场的三维坐标、位移、应变数据

-  测量结果三维显示

-  适用于任何材料

-  快速、简单、高精度的系统标定

-  测量幅面可自由调节:从1~10mm的范围

-  应变测量范围:从最小0.01%到大于500%的范围

-  灵活易用的触发功能

四、主要技术参数

型号

SWXWY-600C

科研型

SWXWY-600A

标准型

SWXWY-600B

教育型

总放大倍数

0.64x-8x(1.0x物镜)

0.6x-4.8x

0.8x-10x

相机分辨率

500万像素

500万像素

230万像素

相机帧率(满帧)

75fps

75fps

40fps

最小曝光时间

21μs

测量范围

1mm²-100mm²

位移测量精度

0.01pixel

位移测量范围

0.01%-500%

应变测量精度

30με

30με

50με

测量姿态

垂直/水平

工作距离

61.5mm

83.4mm

78mm

科测量数据

3D全场位移、应变等



温度

-160度-600度

用户接口

8路模拟输入,4路模拟输出,2路数字输入,2路数字输出

1路光电传感器输入/干接点输入

全自动标定台架

全自动标定台,电动集成控制;独立标定板设计,视野一致的可调中心对齐结构,降低手动操作的要求

快速标定装置匹配软件实现100S一键自动标定,结果直接应用到分析计算软件

其他功能

专用制斑工具、精密光刻标定板,光学隔振平台(选配)





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