固体绝缘材料的介质损耗角正切值 tanδ测试仪

1、硅橡胶材料介损测量原理：

介质损耗因数是表征绝缘在交流电压下损耗的特征参数，它与被测材料的外观性状和体积大小无关。固体绝缘材料的介质损耗是由电导和极化两个物理过程引起的，在交流电压作用下，固体绝缘材料的介质损耗不仅含有电导损耗，而且还要包括极化损耗。对于固体绝缘介质来说，反映其绝缘特性的参数有介质损耗角正切值 tanδ、电容值 CX 和泄露电流 I，通常采用介质损耗角正切值来反映绝缘介质损耗特性的优劣。随着 tanδ的增大，绝缘介质损耗增加，这意味着绝缘材料绝缘性能的变坏，因此在系统运行中通常采用测量 tanδ作为评定电气设备绝缘性能好坏的方式。

测量介质损耗 tanδ能够有效地发现材料整体（即包括了大部分的体积）受潮，内部有气泡以及老化劣化的情况，但对于局部非贯穿性的绝缘缺陷（即介质中体积较小部分的缺陷）不是很灵敏。

介质损耗测量方法主要有瓦特法、电桥法和不平衡电桥法，西林电桥的精度是好的。西林电桥可用于从低于工频(50~60Hz)直至 100kHz 的频率范围，通常测定具有 50~1000pF 电容的试样或被试设备。西林电桥是一个四桥臂的回路。其中两条臂主要为电容，包括未知电容 CX 和无损耗电容 CN，另外两条测量臂由无感电阻 R1 和 R2 组成，电阻 R1 在未知电容 CX 的对边上，测量臂至少被一个电容 C1 分流。

由于频率范围的不同，实际上电桥的构造也会有明显的不同，试验中采用的为工频 50Hz。这时电容臂和测量臂的阻抗大小在数量级上相差较多，绝大部分电压都施加在电容 CX 和 CN 上，低压元件对高压元件应当满足屏蔽条件，屏蔽必须接地，以保证平衡的稳定。本试验采用ZJD-87 型介质损耗测量仪，如下图所示，在测量硅橡胶绝缘材料介质损耗的过程中采用的是正接线方式。

对于该介质损耗测量仪接收器来说，试样电容 CX 的测量精度为读数的0.5%±0.1pF，介质损耗正切值 tanδ的测量精度为读数的 1%±0.00040，内施高压为 100~10000V，最大输出电流为 200mA，可实现电压连续平滑的调节，相位差测量范围为 0.000°～359.999°，测量精度为±0.003°(无干扰)，±0.01°。

2、介质损耗因数

介质损耗因数试验是判断电气设备绝缘性能较为有效的方法，能直接、明显地反映出绝缘的整体受潮、劣化变质 等分布性缺陷。因此，在电气设备（如电力变压器、高压开关、互感器、套管、耦合电容等）交接和例行试验中，介质损 耗因素试验已得到广泛的应用。本文较为系统地阐述了介质损耗因数的定义、试验等值电路及向量图、试验目的、测量仪 器及影响试验结果的因素。

3、固体绝缘材料的介质损耗角正切值 tanδ测试仪型号及参数