CMI900(X荧光镀层测厚仪)-东莞市艾格电子科技有限公司

技术参数主要规格规格描述 X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选装备有安全防射线光闸二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选准直器程控交换系统最多可同时装配6种规格的准直器多种规格尺寸准直器任选：

－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) 在12.7mm聚焦距离时，测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) 样品室 CMI900 CMI950

－样品室结构开槽式样品室开闭式样品室－样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm

－XY轴程控移动范围标准：152.4 x 177.8mm还有5种规格任选 300mm x 300mm

－Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时，152.4mmXY轴手动时，269.2mm

－XYZ三轴控制方式多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制

－样品观察系统高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。

激光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能计算机系统配置 IBM计算机惠普或爱普生彩色喷墨打印机分析应用软件操作系统：Windows2000中文平台分析软件包：SmartLink FP软件包

－测厚范围可测定厚度范围：取决于您的具体应用。

－基本分析功能采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。

样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)

可检测元素范围：Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素/共存元素校正贵金属检测，如Au karat评价材料和合金元素分析，材料鉴别和分类检测液体样品分析，如镀液中的金属元素含量多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析－调整和校正功能系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移

－测量自动化功能鼠标激活测量模式：“Point and Shoot" 多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式测量位置预览功能激光对焦和自动对焦功能

－样品台程控功能设定测量点连续多点测量测量位置预览(图表显示)

－统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图数据分组、X-bar/R图表、直方图数据库存储功能

任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书－系统安全监测功能 Z轴保护传感器样品室门开闭传感器

操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师

产品介绍：

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