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日立台式电子显微镜 电镜 TM4000/TM4000Plus

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更新时间:2022-10-29 10:45:42浏览次数:253次

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产品简介

日立TM4000扫描电镜的低真空系统使得样品不需任何处理即可快速进行观察。TM4000优化提供5kV、10kV、15kV三种不同电压下的观察模式,每种模式下电流4档可调,并配备4分割背散射探测器,可采集四个不同方向的图像信息,对样品进行多种模式成像。

详细介绍

    日立台式电镜产品介绍

    日立TM4000扫描电镜的低真空系统使得样品不需任何处理即可快速进行观察。TM4000优化提供5kV、10kV、15kV三种不同电压下的观察模式,每种模式下电流4档可调,并配备4分割背散射探测器,可采集四个不同方向的图像信息,对样品进行多种模式成像。具有全新的SEM-MAP导航功能,同时,电镜图片可以报告形式导出。配备大型样品仓,可容纳样品直径80mm,厚度50mm。

    TM4000Plus是在TM4000基础上增加高灵敏度低真空二次电子探头UVD,该探头在低真空环境下具有很好的成像质量。TM4000Plus可将二次电子图像和背散射电子图像叠加并实时进行显示,获得最多的样品信息。可选配附件丰富,拥有诸多附加功能。

    主要参数

    1. 观察条件:5kV/10kV/15kV(均四档可调)、EDX

    2. 放大倍率:10×~100000×

    3. 观察模式:导体(TM4000Plus)、标准模式,消除电荷模式

    4. 探测器:4分割背散射探测器、低真空二次电子探测器 (TM4000Plus)


    服务范围:

    测试项目

    Test Item

    服务范围

    Scope

    微观形貌观察

    根据客户要求对样品区域、形貌进行观察与分析,放大倍数<10,000倍;不能测试液体及易挥发物质

    元素分析

    测量范围/精度: Li3~Cf98

    适用范围:高聚物、金属、无机物、粉末等;

    定性半定量;

    不能测试液体及易挥发物质

    断面分析

    1. 针对断裂样品进行,使用光学显微镜和扫描电子显微镜进行观察

    2. 主要判断断裂方式(韧性、脆性)、裂纹源头、延展方向等

    3. 报告中包含断口图片和分析结果,但无法判断断裂原因

    异物失效分析

    金属腐蚀产物分析

    金属镀层析出物定性分析

    介质污染异物类分析

    镀层厚度及成分定性分析

    针对部分真空电镀至0.8μm以下镀层厚度,进行SEM厚度测试,分辨率可达0.01μm;及多层镀层线扫描成分分析


    应用领域

    生命科学

    材料科学

    化学

    电子制造

    食品工业


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