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CA-8H.可焊性测试仪

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更新时间:2022-10-12 15:57:21浏览次数:198次

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产品简介

简单介绍: CA-8H.可焊性测试仪运用润湿称量法对各类封装电子元器件(DIP,TO,贴片电阻,贴片电容 ),各类低频接插件,插针,插片,线材和导线接端,助焊剂、焊材、焊膏进行可焊性定量检测仪器采用微机控制,测试数据稳定可靠,操作维修方便。在测试过程中自动绘制润湿力与时间的动态曲线,并提供测试数据及测试结果供用户判断使用测试方法符合国际IEC和......

详细介绍

详情介绍:

CA-8H.可焊性测试仪

运用润湿称量法对各类封装电子元器件(DIP,TO,贴片电阻,贴片电容 ),各类低频接插件,插针,插片,线材和导线接端,助焊剂、焊材、焊膏进行可焊性定量检测

仪器采用微机控制,测试数据稳定可靠,操作维修方便。在测试过程中自动绘制润湿力与时间的动态曲线,并提供测试数据及测试结果供用户判断使用测试方法符合国际IEC和国家有关标准的规定

技术参数

润湿力:-9.80~9.80m N

精度:0~-1.00m N : 误差为读数的±1%±0.03m N -1.00~-2.00m N : 误差为读数的±1%±0.02m N -2.00~-9.80m N : 误差为读数的±1%±0.01m N

润湿力设定范围及润湿力显示范围:0~-9.99m N (分度0.01m N)

润湿力显示时间设定范围:0~10s(分度1s)

润湿开始时间测量范围和显示范围:0.0~9.9s分度(0.1s) 误差为±0.1s

试件直径:0.1~ 4 mm(0.1mm)

试件*大重量:不大于10g

试件浸渍深度测量范围:1~9mm(分度1mm) 误差不大于±0.2mm 0.1~0.9(分度0.1mm)误差不大于±20%

试件浸渍持续时间设定范围:0~10s(分度1s)误差不大于0.1s

试件浸渍速度可调范围:1~25mm/s (1,2,5,10,15,20,25) 误差不大于±10%

称量模拟电压输出:称重1g时输出-980mV误差<=1.5%

焊料温度:235±2℃

可靠性:MTBF 不小于500小时

使用电源:交流220V±10%, 50±2 Hz 功率不大于1000W

外形尺寸:测孔装置:50*50*40CM

使用环境条件:工作温度:10~30℃ 相对湿度:40~80%
















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