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武汉瑞德仪科技有限公司
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10nm以下超高空间分辨率纳米红外光谱仪
使用AFM-IR技术的nanoIR3具有小于10 nm分辨率的性能
基于原子力显微镜（AFM）的红外光谱技术（AFM-IR），使用 AFM 探针对样品局部通过红外吸收产生的热膨胀信号进行检测。因此，AFM-IR 技术不仅拥有 AFM 的空间分辨率，而且可以进行基于红外光谱的化学分析和成分分布成像。以多年行业的 AFMIR 仪器研发制造为基础，融合的技术，全新的 Bruker Anasys nanoIR3 系统集成了纳米尺度红外光谱技术、化学成像、材料性质成像等一系列功能，以其的性能在生命科学、化学和材料学领域有着广泛的应用。
nanoIR3系统的主要特点
1）Tapping AFM-IR 技术可以实现小于10 nm 分辨率的化学成像
2） HYPERspectra 技术实现高性能的纳米尺度 FTIR 光谱
3） 纳米尺度材料性质分布
4）可匹配行业 FTIR 数据库
Tapping AFM-IR技术实现小于10 nm分辨率的化学成像
申请中全新的Tapping AFM-IR成像技术实现了结合空间分辨率与高成像速度的化学成像技术。无论您的目标是对聚合物进行化学成分分布表征，亦或是对最小的污染物颗粒或对的多层膜体系进行化学成分分析，都可以轻松快捷的获得高分辨率的化学成像。
HYPERspectra实现数秒内高速光谱采集
布鲁克HYPERspectra激光技术将共振增强AFM-IR技术扩展至更广的光谱范围(包括OH，CH伸缩振动以及N-H伸缩振动区域)。这项专有技术为更为广泛的应用所必须的分辨率与灵敏度设定了新标准，同时仍可以在纳米尺度下提供杰出的直接关联FTIR光谱。
的空间分辨率和单层灵敏度
专有的Tapping AFM-IR技术和HYPERspectra技术树立了分辨率与灵敏度的新标准，在保持单层灵敏度的同时，实现了小于10 nm的空间分辨率。
纳米尺度材料性质分布成像
集成化、全功能的AFM系统具有多种热学、力学以及电学模式进行材料性质分表征，以实现的多模式表征在材料学和生命科学中的广泛应用。
POINTspectra技术成像与光谱采集
nanoIR3还可以实现红外化学成像对感兴趣特征的化学变化表征。的POINTspectra功能使用单个激光光源提供点光谱采集和化学成像功能，从而缩短数据采集时间，提供了一个更具成本效益的研究解决方案
与业内FTIR数据库匹配
nanoIR3提供了高质量的红外光谱，可以将其导出到业内FTIR数据库中以鉴别样品成分。
环境控制
nanoIR3提供多种样品环境控制功能，包括对温度、湿度以及多种气体氛围的控制。
nanoIR3 技术参数 | |
激光器波数范围 | HYPERspectra QCL 780 – 1800 cm-1 FASTspectra OPO 2710 – 3600 cm-1 FASTspectra QCL option 950 – 1900 cm-1 |
X-Y-Z 扫描范围 | 50 µm × 50 µm × 6 µm |
标准成像模式 | 轻敲模式；相位成像模式；接触模式；侧向力模式；力曲线模式 |
标准IR模式 | Tapping AFM-IR 模式； FASTmapping 模式； 共振增强 AFM-IR 模式 |
可选成像模式 | 纳米热学分析(nanoTA)； 扫描热学显微镜(SThM)； 导电原子力显微镜（CAFM）； 开尔文探针原子力显微镜(KPFM)； 洛伦兹接触共振(LCR) |
AFM可选配件 | 环境控制腔； 加热冷却模块； 液下成像模块 |
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