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u几个不同的型号包括了从200至2150nm光谱测量范围 u背向照明CCD探测器保证了的灵敏度 u最短的测量时间–大约毫秒级 uUSB或PCI界面 u得益于可以自由选择的中性衰减片仪器有非常宽的强度测量范围 u所有的INSTRUMENTSYSTEMS测量配件均采用光学光纤连接 u适合于研发部门和生产部门的软件解决方案 u完善的发光二极管
u几个不同的型号包括了从 200 至 2150 nm光谱测量范围
u背向照明CCD探测器保证了的灵敏度
u最短的测量时间 – 大约毫秒级
uUSB或PCI界面
u得益于可以自由选择的中性衰减片仪器有非常宽的强度测量范围
u所有的INSTRUMENT SYSTEMS测量配件均采用光学光纤连接
u适合于研发部门和生产部门的软件解决方案
u完善的发光二极管,显示器件和闪烁灯的测量系统
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