高分辨透射电子显微镜（TEM）

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更新时间：2022-11-22 11:23:58浏览次数：238次

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仪器照片仪器名称高分辨透射电子显微镜仪器型号JEM-2010生产厂家日本电子公司仪器简介透射电镜是以电子束透过样品经过聚焦与放大后所产生的物像，投射到荧光屏上或照相底片上进行观察

详细介绍

仪器照片
仪器名称	高分辨透射电子显微镜
仪器型号	JEM-2010
生产厂家	日本电子公司
仪器简介	透射电镜是以电子束透过样品经过聚焦与放大后所产生的物像，投射到荧光屏上或照相底片上进行观察。该设备包含有TEM﹑EDS﹑NBD﹑CBD工作模式，可观察材料的质厚衬度像，衍射衬度像和高分辨电子显微像；可获得不同取向的电子衍射花样；可进行微区成分分析。
技术参数	加速电压：80-200kV 电子枪：LaB6晶体能谱仪：Link-Inca超薄窗口能谱仪放大倍率：50-150万倍分辨率：点分辨率≤0.23nm，线分辨率=0.14nm	加速电压稳定性：≤2ppm 物镜电流稳定性：≤1ppm 物镜色差系数：≤1.4mm　　物镜球差系数：≤1.0mm 束斑尺寸:TEM mode: 优于20nm　　 EDS/NBD/CBD mode: 优于1.0nm
送样要求	建议提供文献图片或者以前做过的图片，如果没有，检测要求需详细填写。样品可提供20张左右图片：即筛选出三个比较好的区域，每个区域提供3-4张不同放大倍数满足测试要求的图片，对于找不到符合测试要求的区域的样品，我们将会多拍一些区域以证明样品的真实情况！寄送样品质量大于20 mg。