冷场发射扫描电子显微镜(SEM)2

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更新时间：2022-11-22 11:25:45浏览次数：377次

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产品简介

冷场发射扫描电子显微镜(SEM)2

详细介绍

仪器照片
仪器名称	冷场发射扫描电子显微镜
仪器型号	S 4800
生产厂家	日本Hitachi公司
技术参数	1) 高分辨率FE-SEM对下列材料进行解析时具有一定的效果 2) 对电子材料表面形状的高分辨率观察(5nm以下) 3) 对高分子复合材料的低加速电压低损伤观察 4) 对纳米材料表面／内部结构的相辅性观察
适用领域	1) 广泛地应用于各种金属材料和非金属材料的检验和研究 2) 在材料科学研究、金属材料、化学材料、半导体材料、陶瓷材料等多个领域可以进行材料的微观形貌、组织、成分分析，材料断口分析和失效分析 3) 各种材料的形貌组织观察；材料实时微区成分分析 4) 快速的多元素面扫描和线扫描分布测量；晶粒尺寸、形状分析，晶体、晶粒取向测量 5) 元素定量、定性成分分析 6) 晶体、晶粒的相鉴定
检测案例
检测案例
样品要求	1) 请根据自己样品的性质及测试需求，自行查阅相关资料后，提供详细的测试条件（电压、电流、信号、放大倍数、标尺、理想的照片等） 2) 样品量不少于30mg。可以接受固体、粉末、薄膜或纤维样品 3) 潮湿的样品不能测试。有机的样品需要具体沟通