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冠层分析系统
通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）；Sucan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。

型号： SunScan 所在地：国外参考价：面议更新时间：2022/2/13 18:07:03 对比

SunScan冠层分析系统

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