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苏州上器试验设备有限公司
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不用接触就可以简单准确地测量原生或成型硅块的真实寿命。与半导体工业标准PV(光伏）－13相符合。
操作简单、灵敏度高
BLS-I and BCT-400测量系统对于单晶硅或多晶硅（硅锭或硅块）不需要进行表面钝化就可以进行寿命测量。因为寿命测量是描述生长特征和污染缺陷灵敏度的技术，这些工具允许你评估硅生长后的质量。
性能优越
非接触方式量测真正意义上的硅块少子寿命，符合SEMI的PV13标准；相比业界其他少子寿命测试仪BLS-I/BCT系列是性能更优越的少子寿命测试仪。
多型号选择
如果想要设备能够测量多种的表面类型（150mm直径到平滑的）请选BLS-1.如果是仅需要测量平滑表面，请选择BCT-400.
BCT400/BLS-1应用
厂商品质监控常见的测量设备，拥有广泛客户群
•测量寿命在1-5ms(豪秒）范围内的高纯度硅
•测量没有进行特殊表面处理的原生直拉硅
•测量多晶硅块的寿命和俘获浓度
•探测氧化硼缺陷，铁污染，和表面损害
•测试直拉硅，区熔硅，多晶硅或高纯冶金硅的初始原料质量
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 测量参数 | 少子寿命、电阻率、陷阱密度 |
| 可测量的少子寿命范围 | 0.1us-10ms |
| 可测量的电阻率范围 | 0.5-300ohm.cm |
| 分析模式 | 准稳态方法少子寿命分析 瞬态方法少子寿命分析 一般方法少子寿命分析 |
| 可施加的用于修正陷阱的偏执光范围 | 0-50suns |
| 可以测量的样品的表面类型 | 表面为平的硅块样品（BCT-400） 表面不平整的硅块样品（BLS-I） 不平整弧度的直径可达150mm |
| 光源光谱 | 白光和红外光 |
| 感应器的面积 | 45cm*45cm |
| 可测量深度 | 3mm |
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