详细摘要： 产品介绍 现有机型SU8240,SU8230,SU8220及SU8010重新整合，衍生而成Regulus8240、Regulus8230、Regulus8220...
产品型号：所在地：上海市更新时间：2024-03-23 在线留言PLC 工控机 嵌入式系统 人机界面 工业以太网 现场总线 变频器 机器视觉 DCS PAC/PLMC SCADA 工业软件 ICS信息安全 应用方案 无线通讯
思耐达精密仪器（上海）有限公司
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详细摘要： 产品介绍 创新的“EM Wizard"界面更加直观，仅需要“点击"即可得到的图像。 超前的电脑辅助技术将电镜的操作与控制提升到一个新水平。
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详细摘要： 产品介绍 MirrorCLEM是一个可简便观察光学显微镜和扫描显微镜同一位置的CLEM*1用系统。
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详细摘要： 产品介绍 SU7000不仅可以在低加速电压下获得高画质图像，而且还可以同时接收多种信号。此外，它还具备大视野观察、In-Situ观察等FE-SEM的众多性能。
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详细摘要： 产品介绍 1、图标按操作流程顺序排列，操作简便 2、通过对应谱图可简单确认元素重叠状况 3、通过TruMap功能分离出谱峰重叠元素并准确显示(AZtecOne)...
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详细摘要： 产品介绍 专用扫描透射显微镜HD-2700，配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪，显著提高了扫描透射电子显微...
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详细摘要： 产品介绍 台式扫描电子显微镜(SEM)全新升级。 我们以“更高画质、更易于使用、更易于观察"为理念，开发出TM4000系列。在此基础上，我们又推出功能更为多样的...
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详细摘要： 产品介绍 "RuliTEM"120 kV透射电子显微镜系列，包含配备高衬度透镜，实现大视野、高对比度观察的HT7800和配备同级别分辨率透镜的HT7830。 全...
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详细摘要： 产品介绍 “Ethos"采用日立高新的核心技术--的高亮度冷场发射电子枪及新研发的电磁复合透镜，不但可以在低加速电压下实现高分辨观察，还可以在FIB加工时实现实...
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详细摘要： 产品介绍 通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察，采集一系列连续截面图像，并重构特定微区的三维结构。 采用的镜筒布局，从材料、设备到生物组织——在宽广的...
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详细摘要： 产品介绍 在设备及高性能纳米材料的评价和分析领域，FIB-SEM已成为的工具。 近来，目标观察物更趋微细化；更薄，更低损伤样品的制备需求更进一步凸显。 日立高新...
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详细摘要： 产品介绍 MI4050是具有以下特征的高性能聚焦离子束系统：新型电子光学系统，可达到高水准的SIM像分辨率・大束流使加工速度得以提升・提高了低加速电压的分辨率，...
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详细摘要： 产品介绍 微型采样方法(已在日本和美国取得)已在半导体器件分析领域成为一款工具，它正迅速向更小制样方向发展。仅用一小时左右即可获得一个微小样品，以便于STEM分...
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详细摘要： 产品介绍 该导航系统可以将CAD数据的布线和大规模集成电路的设计图形和FIB的观察图像相对应起来。当CAD系统中的坐标位置，样品台就会通过链接移动到相应位置，就...
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详细摘要： 产品介绍 所述ZeGage™临和ZeGage™临HR 3D光学廓提供非接触测量及微表征和纳米尺度的几乎任何表面特征，以及设置性能台式的新...
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详细摘要： 产品介绍 NewView™ 9000 3D光学轮廓仪提供了强大、多功能的非接触式光学表面分析。它可以简单和快速地测量各种表面类型，包括光滑、粗糙、平...
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详细摘要： 产品介绍 Nexview™ NX2 光学轮廓仪是为更高应用需求设计的，集超精密、算法、应用灵活性和自动化为一体，展现了ZYGO相干扫描干涉(CSI)...
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详细摘要： 产品介绍 ZeGage™光学轮廓仪是用于3D形貌定量测试，和精密机械表面粗糙度检测的理想非接触式检测工具。它工业化的设计提供快速，精确的测量方案，并...
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详细摘要： 产品介绍 测量动态MEMS设备光学轮廓仪是确定MEMS设备表面特征的一 种非常有用的工具。传统意义上，光学轮廓仪被用来测量样品的表面特性。但是，在测量过程中，所...
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