行业产品

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柯岷国际贸易(上海)有限公司


  • 离子溅射仪 MC1000

    详细摘要: 采用磁控型电极,限度地减轻对样品的损坏。

    产品型号:所在地:上海市更新时间:2024-08-08 在线留言

  • 离子研磨仪 IM4000II

    详细摘要: 离子研磨仪 IM4000II

    产品型号:所在地:上海市更新时间:2024-06-18 在线留言

  • 牛津仪器X-MaxTEM大面积硅漂移探测器

    详细摘要: 牛津仪器X-MaxTEM大面积硅漂移探测器

    产品型号:所在地:上海市更新时间:2024-06-18 在线留言

  • 牛津仪器Ultim Extreme无窗超级能谱

    详细摘要: 牛津仪器Ultim Extreme无窗超级能谱

    产品型号:所在地:上海市更新时间:2024-06-18 在线留言

  • 牛津仪器Xplore能谱探测器

    详细摘要: 牛津仪器Xplore能谱探测器

    产品型号:所在地:上海市更新时间:2024-06-18 在线留言

  • 球差场发射透射电子显微镜 HF5000

    详细摘要: 200 kV相差校正TEM/STEM,平衡了空间分辨率和倾斜、分析性能。通过单极片实现0.078 nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX。透射电...

    产品型号:所在地:上海市更新时间:2024-06-18 在线留言

  • CAD导航系统 故障分析导航系统 (NASFA)

    详细摘要: 该导航系统可以将CAD数据的布线和大规模集成电路的设计图形和FIB的观察图像相对应起来。当CAD系统中的坐标位置,样品台就会通过链接移动到相应位置,就可以获得相...

    产品型号:所在地:上海市更新时间:2024-06-18 在线留言

  • 微型采样系统

    详细摘要: 微型采样方法(已在日本和美国取得zhuanli)已在半导体器件分析领域成为一款工具,它正迅速向更小制样方向发展。仅用一小时左右即可获得一个微小样品,以便于STE...

    产品型号:所在地:上海市更新时间:2024-06-18 在线留言

  • 高性能聚焦离子束系统 MI4050

    详细摘要: MI4050是具有以下特征的高性能聚焦离子束系统:新型电子光学系统,可达到高水准的SIM像分辨率・大束流使加工速度得以提升・提高了低加速电压的分辨率,使得高品质...

    产品型号:所在地:上海市更新时间:2024-06-18 在线留言

  • FIB-SEM三束系统 NX2000

    详细摘要: 在设备及高性能纳米材料的评价和分析领域,FIB-SEM已成为的工具。近来,目标观察物更趋微细化;更薄,更低损伤样品的制备需求更进一步凸显。日立高新公司,整合了高...

    产品型号:所在地:上海市更新时间:2024-06-18 在线留言

  • 高精度实时三维分析FIB-SEM三束系统 NX9000

    详细摘要: 通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察,采集一系列连续截面图像,并重构特定微区的三维结构。采用的镜筒布局,从材料、设备到生物组织——在宽广的领域范围内实...

    产品型号:所在地:上海市更新时间:2024-06-18 在线留言

  • 高性能FIB-SEM系统 Ethos NX5000

    详细摘要: “Ethos"采用日立高新的核心技术--的高亮度冷场发射电子枪及新研发的电磁复合透镜,不但可以在低加速电压下实现高分辨观察,还可以在FIB加工时实现实时观察。S...

    产品型号:所在地:上海市更新时间:2024-06-18 在线留言

  • 全自动型原子力显微镜 AFM5500M

    详细摘要: AFM5500M是操作性和测量精度大幅提高,配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换,激光对中,测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。新开发...

    产品型号:所在地:上海市更新时间:2024-06-18 在线留言

  • 环境型原子力显微镜 AFM5300E

    详细摘要: AFM5300E是一款环境型原子力显微镜,它的环境控制单元可以使样品在大气中、真空中、溶液中等环境中进行测量。AFM5300E还具有高低温控制功能,可以检测温度...

    产品型号:所在地:上海市更新时间:2024-06-18 在线留言

  • 通用型原子力显微镜 AFM5100N

    详细摘要: AFM5100N除了激光检测方式之外,全新的「自检测悬臂」,在保证高分辨表面形貌观察的同时,大大简化了AFM悬臂操作。

    产品型号:所在地:上海市更新时间:2024-06-18 在线留言

  • 原子力显微镜工作站AFM5000II/RealTune® II

    详细摘要: AFM5000Ⅱ工作站采用全新的图标用户界面,标准配备参数自动设置功能(RealTune® II),即使是刚刚接触SPM的初学者或者遇到全新的样品时,也...

    产品型号:所在地:上海市更新时间:2024-06-18 在线留言

  • 纳米尺度3D光学干涉测量系统 VS1800

    详细摘要: 纳米尺度3D光学干涉测量系统VS1800应用光干涉现象,对微细的表面形貌进行测量,可实现高性能薄膜、半导体、汽车零配件、显示器等行业所要求的高精度测量。而且还能...

    产品型号:所在地:上海市更新时间:2024-06-18 在线留言

  • 日立离子研磨仪器 IM4000PLUS

    详细摘要: IM4000PLUS是支持断面研磨和平面研磨(Flat Milling®*1)的混合式离子研磨仪器。借此,可以用于适用于各种诸如对样品内部结构观察和各类...

    产品型号:所在地:上海市更新时间:2024-06-18 在线留言

  • 离子研磨仪 ArBlade 5000

    详细摘要: ArBlade 5000是日立离子研磨仪的高性能机型。它实现了超高速截面研磨。高效率截面加工功能,使电镜截面观察时样品加工更简单。

    产品型号:所在地:上海市更新时间:2024-06-18 在线留言

  • TM系列专用能谱仪(EDS) Quantax75

    详细摘要: 操作简单且直观。*:和TM4000Plus搭配应用实例*:探测器内置型(制造商: 德国Bruker nano GmbH)

    产品型号:所在地:上海市更新时间:2024-06-18 在线留言

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