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谱线光电科技（武汉）有限公司
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特性 波长测量范围：630-2200nm RIN噪声测量 超低相位/频率噪声测量 ......
武汉谱线科技代理的美国OEwaves公司的线宽测试系统OE4000采用零差法，对超低相位噪声的连续激光光源进行全自动测量。测量过程简单快速，并且不需要外置的参考光源，能够实现小于3Hz的线宽测量，同时能够进行波长范围、本底噪声、输入功率、RIN测量等功能扩展。
相位本底噪声：-140 ± 2 dBc/Hz @ >1 MHz
光输入功率范围：+5 ~+ 15 dBm
失调频率范围：10 Hz ~1 MHz
分辨率带宽：0.1 Hz ~200 kHz
偏移频率(Hz)
线宽及噪声测量系统OE4000
谱线科技-OEwaves线宽及噪声测量系统OE4000产品规格书
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