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北京光量科技有限公司
结构特征新型的TXS光谱仪可在HHG光束(高频光束)、X射线自由电子激光器和台式X射线激光器上进行准确的光子诊断
通过简单地将反向散射探针与材料样品交换,hardLIGHT TXS即可用于X射线发射光谱测量(XES)。
软X射线范围提供了对许多材料的化学状态的高灵敏度通道,例如,在2kV下对硫的研究为电池研究提供了重要的参考。
X-ray absorption spectroscopy (XAS) at the sulfur K-edge (data courtesy of Dr. W. Malzer, TU Berlin)
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