详细摘要： BC3193半导体分立器件测试系统是半导体参数测试的专用设备, 用于半导体器件生产厂家进行圆片中测或封装成测，各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、...
产品型号：BC3193所在地：北京市更新时间：2023-11-08 在线留言PLC 工控机 嵌入式系统 人机界面 工业以太网 现场总线 变频器 机器视觉 DCS PAC/PLMC SCADA 工业软件 ICS信息安全 应用方案 无线通讯
北京励芯泰思特测试技术有限公司
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详细摘要： BC3193半导体分立器件测试系统是半导体参数测试的专用设备, 用于半导体器件生产厂家进行圆片中测或封装成测，各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、...
产品型号：BC3193所在地：北京市更新时间：2023-11-08 在线留言
详细摘要： BC3193半导体分立器件测试系统是半导体参数测试的专用设备, 用于半导体器件生产厂家进行圆片中测或封装成测，各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、...
产品型号：BC3193所在地：北京市更新时间：2023-11-08 在线留言
详细摘要： HL100系列高低温在线测试系统是为重要部门、航空、航天等单位开发生产的电子元器件常温、高温、低温在线测试专用设备。能使用户在高低温条件下对半导体分立器件、光耦...
产品型号：HL100系列所在地：北京市更新时间：2023-11-06 在线留言
详细摘要： LX9302霍尔器件参数测试系统用于霍尔器件的线性、开关性能参数测试，并能对测试结果进行存储和打印。测试原理符合相应的国家计量规范。系统为模块化、开放式结构，具...
产品型号：LX9302所在地：北京市更新时间：2023-11-06 在线留言
详细摘要： 二极管、三极管、MOSFET、IGBT等半导体分立器件的栅电阻Rg、输入电容Ciss、输出电容Coss、反向电容Crss。
产品型号：LX9605所在地：北京市更新时间：2023-11-06 在线留言
详细摘要： LX9603二极管反向恢复时间测试系统用来测试快恢复二极管的反向恢复时间和反向恢复电荷（正向电流反向电流的测试方法）。
产品型号：LX9603所在地：北京市更新时间：2023-11-06 在线留言
详细摘要： 该系统是半导体微波器件直流参数测试的专用设备, 适用于二极管、三极管、MOS管等半导体分立器件直流参数测试，同时用于半导体微波二极管、微波三极管等器件直流参数测...
产品型号：LX9100所在地：北京市更新时间：2023-11-06 在线留言
详细摘要： BC3186 DC/DC参数测试系统可以对DC/DC电源模块直流参数、交流参数进行测试，并能对测试结果进行存储和打印，测试原理符合相应的国家标准、国家重要部门标...
产品型号：BC3186所在地：北京市更新时间：2023-11-06 在线留言
详细摘要： BC3185特征频率fT测试系统主要用于晶体管特征频率fT的测试，测试结果可以存储和打印，采用“带宽—增益乘积"原理符合国家标准测量原理。测试系统适用于生产厂家...
产品型号：BC3185所在地：北京市更新时间：2023-11-06 在线留言
详细摘要： LX9500 IGBT静态参数测试系统是由北京励芯泰思特测试技术有限公司自主研制、开发、生产的半导体参数测试的专用设备, 本测试系统适用于大功率二极管、MOSF...
产品型号：LX9500所在地：北京市更新时间：2023-11-06 在线留言
详细摘要： BC3199P功率运算放大器测试系统, 用于测试PA04/PA07/PA83等功率运放的直流参数及交流参数，并能对测试结果进行存储和打印。生产厂家进行圆片中测或...
产品型号：BC3199P所在地：北京市更新时间：2023-11-06 在线留言
详细摘要： BC3199模数混合集成电路测试系统, 用于模拟集成电路、音频和数模混合集成电路的测试，生产厂家进行圆片中测或封装成测，各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行...
产品型号：BC3199所在地：北京市更新时间：2023-11-06 在线留言
详细摘要： BC3193TM半导体分立器件时间参数测试系统用于半导体三极管、MOS管等器件的开关时间参数测试。用于各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分...
产品型号：BC3193TM所在地：北京市更新时间：2023-11-06 在线留言
详细摘要： 此测试系统主要用于各类输出型光电耦合器的直流参数测试、时间参数的测试，包括隔离数字光耦，线性光耦，高速光耦等。支持6单元器件测试(Six unit inone ...
产品型号：LX3187所在地：北京市更新时间：2023-11-03 在线留言
详细摘要： BC3187光电耦合器测试系统用于低速光电耦合器的直流参数和时间参数的测试。适用于半导体器件生产厂家进行圆片中测或封装成测，各类整机厂家、科研院所的质量检测部门...
产品型号：BC3187所在地：北京市更新时间：2023-11-03 在线留言
详细摘要： LX9600 分立器件动态参数测试系统是由北京励芯泰思特测试技术有限公司自主研制、开发、生产的半导体分立器件动态参数测试的专用设备, 通过使用不同类型的测试头对...
产品型号：LX9600所在地：北京市更新时间：2023-11-03 在线留言
详细摘要： BC3197电磁继电器测试系统针对单稳态和双稳态电磁继电器进行测试，支持双线圈可翻转触点电磁继电器的直流参数测试和时间参数测试，并能对测试结果进行存储、打印和数...
产品型号：BC3197所在地：北京市更新时间：2023-11-03 在线留言
详细摘要： LX9300大功率分立器件测试系统是半导体参数测试的专用设备, 本测试系统不仅满足大功率VDMOS的GFS(跨导)测试、IGBT功率参数的测试，还涵盖中小功率半...
产品型号：LX9300所在地：北京市更新时间：2023-11-03 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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