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武汉普赛斯电子股份有限公司

经营模式：其他

商铺产品：63条

所在地区：湖北武汉市

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850nm光通晶圆测试机

详细摘要：普赛斯光通信VCSEL测试机用于面发射类型VCSEL的Wafer测试，支持芯片的LIV、光谱相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持常温、...
产品型号：所在地：武汉市更新时间：2024-05-08 在线留言
直流脉冲二合一晶圆测试机

详细摘要：普赛斯高功率VCSEL测试机用于面发射类型VCSEL的Wafer测试，支持芯片的LIV、光谱、近场、远场相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试...
产品型号：所在地：武汉市更新时间：2024-05-08 在线留言
窄脉冲激光雷达晶圆测试机

详细摘要：普赛斯高功率VCSEL测试机用于垂直腔面发射类型激光器芯片的Wafer测试，支持100ns级脉宽30A电流的LIV、光谱、近场、远场相关参数的测试，视觉自动识别...
产品型号：所在地：武汉市更新时间：2024-05-08 在线留言
单温载台（四针）芯片测试机

详细摘要：普赛斯高功率BAR条自动测试机支持大电流、ns级窄脉冲条件测试，全自动测试BAR条LIV曲线，光谱，远场参数。全自动上下料，支持多种规格料盒上料，支持多种规格料...
产品型号：所在地：武汉市更新时间：2024-05-08 在线留言
双温载台（四针）芯片测试机

详细摘要：普赛斯高功率BAR条自动测试机支持大电流、ns级窄脉冲条件测试，全自动测试BAR条LIV曲线，光谱，远场参数。全自动上下料，支持多种规格料盒上料，支持多种规格料...
产品型号：所在地：武汉市更新时间：2024-05-08 在线留言
选配发散角测试

详细摘要：可见光BAR条自动测试机用于巴条LIV曲线，光谱，远场自动测量。全自动上下料，支持料盒上料，支持料盒或蓝膜下料。常温、高温双温测试，测试温度可由用户自定。探针加...
产品型号：所在地：武汉市更新时间：2024-05-08 在线留言
DFB（单针）芯片测试机

详细摘要：本设备应用于光芯片LD-CHIP高温/常温LIV测试、SMSR测试及背光抽测并对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片wafer蓝膜上料，CHIP-ID自动识别记忆...
产品型号：所在地：武汉市更新时间：2024-05-08 在线留言
单温载台（单针）芯片测试机

详细摘要：本设备应用于可见光CHIP常温PIV测试、光谱测试并对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片蓝膜上料，自动寻料、识别定位，通过蓝膜顶针剥离芯片、吸嘴吸取、机械手完成...
产品型号：所在地：武汉市更新时间：2024-05-08 在线留言
DFB+EML（双针）芯片测试机

详细摘要：本设备应用于光芯片LD-CHIP高温/常温LIV测试、SMSR测试及背光抽测并对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片wafer蓝膜上料，CHIP-ID自动识别记忆...
产品型号：所在地：武汉市更新时间：2024-05-08 在线留言
双温载台（单针）芯片测试机

详细摘要：本设备应用于可见光CHIP常温PIV测试、光谱测试并对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片蓝膜上料，自动寻料、识别定位，通过蓝膜顶针剥离芯片、吸嘴吸取、机械手完成...
产品型号：所在地：武汉市更新时间：2024-05-08 在线留言
DFB+EML+SOA（三针）芯片测试机

详细摘要：本设备应用于光芯片LD-CHIP高温/常温LIV测试、SMSR测试及背光抽测并对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片wafer蓝膜上料，CHIP-ID自动识别记忆...
产品型号：所在地：武汉市更新时间：2024-05-08 在线留言
选配双温载台+发散角测试+偏振测试

详细摘要：本设备应用于光芯片LD-CHIP高温/常温LIV测试、SMSR测试及背光抽测并对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片wafer蓝膜上料，CHIP-ID自动识别记忆...
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COC测试机

详细摘要： PSS COCT2000支持COC器件（支持DFB/EML/Tunable）常温和高温下的LIV综合测试和光谱测试。与我司COC老化系统配套使用，通过老化前后测...
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COC抽屉式老化

详细摘要：普赛斯COCBI老化系统为高功率COC老化系统，支持大电流、窄脉冲加电老化，用于COC芯片在高温，稳定电流条件的长时间可靠性实验，支持前光功率检测，软件实时监测...
产品型号：所在地：武汉市更新时间：2024-05-08 在线留言
LD集成式老化系统

详细摘要： LD集成式老化系统，用于各种类型封装LD器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。该系统可以通过软件配置管脚定义并提供高达500mA的驱动电流以及150℃高温老化条件，...
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EML TO老化测试系统

详细摘要：普赛斯EML TO集成式老化测试系统用于EML TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。系统支持1536路器件老化，通过外部环境控温或对器件内部TEC进行高温控...
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LD台式老化监控电源

详细摘要：硬件支持小电流和大电流两个档位，兼容VECSEL和FP/DFB激光器64路老化板作为通用载体，可以实现盘测、老化不同工位直接的转料，提高生产效率
产品型号：所在地：武汉市更新时间：2024-05-08 在线留言
APD集成式老化系统

详细摘要： APD集成式老化系统用于光通信行业的APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA 等TO器件可靠性评估和老化筛选，最多支持3072pcs的单次老化。该系统可...
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APD台式老化监控电源

详细摘要：普赛斯APD台式老化监控电源(PSS APDBI-IV)用于老化APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA TO器件器件，提高器件的品质。该系统通过给AP...
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窄脉冲TO老化

详细摘要：普赛斯大功率窄脉冲抽屉式老化系统主要用于Lidar 激光器在一定温度条件下进行脉冲加电老化，不同的老化抽屉可满足不同封装的Lidar 激光器的老化需求，一个老化...
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