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广州标旗电子科技有限公司
Planum-3000平面光学元件光谱分析仪
Planum-3000平面光学元件光谱分析仪
全自动透光率/反射率分析仪
型号:Planum-3000
用途:用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/
反射率、透过率测量,偏振光测量,膜性测量。
Planum-3000平面光学元件光谱分析仪-适宜测量范围:棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。
操作软件界面
平面光学元件光谱分析仪的技术参数:
型号 Planum-3000(Ⅰ型) Planum-3000(Ⅲ型) 探测器 Sony线形CCD 阵列 Hamamatsu背照式2D-CCD 检测范围 380-1000nm 360-1100nm 波长分辨率 1nm 1nm 信噪比(全信号) 250:1 1000:1 相对检测误差 ﹤1%(400-800nm) ﹤0.2%(400-800nm) 重复定位精度 ﹤0.005° 透射测量角度 0-80°(小样品0-50°) 反射测量角度 10-80°(可扩展到5°) 样品尺寸 ﹥Φ5mm 单次测量时间 <1ms S/P光测量 支持 其他 可自定义打印报告格式,开放式光学材料数据库
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