详细摘要： 高低温集成电路IC芯片温度冲击测试机热流仪，接触式高低温设备是成都中冷研发的针对芯片可靠性测试的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统...
产品型号：所在地：成都市更新时间：2025-05-09 在线留言PLC 工控机 嵌入式系统 人机界面 工业以太网 现场总线 变频器 机器视觉 DCS PAC/PLMC SCADA 工业软件 ICS信息安全 应用方案 无线通讯
成都四洋科技有限公司
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详细摘要： 高低温集成电路IC芯片温度冲击测试机热流仪，接触式高低温设备是成都中冷研发的针对芯片可靠性测试的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统...
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详细摘要： Air Cooling System气体制冷机，ThermoTST GC120气体制冷机采用 混合制冷剂自动制冷层叠技术，以提 供 超低温而不需要液氮的成本、风...
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详细摘要： 接触式 半导体温控平台及设备，过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有升降温效率高，操作简单方便，体积小巧...
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详细摘要： 高加速老化HAST测试机Burn-in Oven，是在非饱和湿度（65%～10 0%RH可调）、温度、压力等条件下，检测产品或材料可靠性耐高温高湿能力的仪器设备...
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详细摘要： HAST测试机高加速寿命试验箱Burn-in system，是在非饱和湿度（65%～10 0%RH可调）、温度、压力等条件下，检测产品或材料可靠性耐高温高湿能力...
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详细摘要： 高低温载物台CHUCK 卡盘，是一款温度范围为-65℃到200℃气冷型高低温卡盘系统，主要由气冷高低温卡盘和气冷温控器组成。系统具有宽泛的温度控制范围、紧凑的冷...
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详细摘要： 高低温循环测试系统热流仪，温度范围-70℃到+225℃，提供的温度转换测试能力。温度转换从-55℃到+125℃之间转换约10秒 ; 经长期的多工况验证，满足各类...
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详细摘要： 接触式在线式温度冲击系统，过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有升降温效率高，操作简单方便，体积小巧，噪...
产品型号：所在地：成都市更新时间：2025-04-29 在线留言
详细摘要： Thermal Control system气体制冷机GC120，ThermoTST GC120气体制冷机采用 混合制冷剂自动制冷层叠技术，以提 供 超低温而不...
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详细摘要： HAST高加速老化试验箱，是在非饱和湿度（65%～10 0%RH可调）、温度、压力等条件下，检测产品或材料可靠性耐高温高湿能力的仪器设备。HAST高压加速老化试...
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详细摘要： BiasHAST偏压老化测试系统，HAST测试系统采用立式结构，便于操作和观察。它利用高温高湿的环境条件，对半导体芯片施加偏置电压，以模拟芯片在长时间使用过程中...
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详细摘要： HAST高加速寿命偏压 老化测试系统，微波器件高加速寿命偏压老化测试系统。是一种用于评估微波器件在条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压，模拟...
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详细摘要： 可替代国外的 接触式芯片高低温测试设备，接触式高低温设备是成都中冷研发的针对芯片可靠性测试的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流...
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详细摘要： 冷热循环冲击气流测试机热流罩，具有更guan泛的温度范围-80℃到+225℃，提供了很强的温度转换测试能力。温度转换从-55℃到+125℃之间转换约10秒 ; ...
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详细摘要： 接触式三温测试台高低温冷热冲击机，接触式高低温设备是成都中冷研发的针对芯片可靠性测试的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低...
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详细摘要： 离子迁移CAF绝缘电阻劣化评估系统HAST，绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试（1～1000小时...
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详细摘要： 在线式温度冲击系统接触式高低温，过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有升降温效率高，操作简单方便，体积小...
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详细摘要： HAST 高压加速老化试验箱，是在非饱和湿度（65%～10 0%RH可调）、温度、压力等条件下，检测产品或材料可靠性耐高温高湿能力的仪器设备。HAST高压加速老...
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详细摘要： 接触式芯片高低温测试设备 气流仪FlexTC，过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有升降温效率高，操作简...
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详细摘要： HAST 高加速压力测试系统，是在非饱和湿度（65%～10 0%RH可调）、温度、压力等条件下，检测产品或材料可靠性耐高温高湿能力的仪器设备。HAST高压加速老...
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