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赛黙飞世尔量色散X荧光光谱仪(原美国热电)(ED XRF)

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产品型号量色散X荧光光谱仪

品       牌

厂商性质代理商

所  在  地上海市

更新时间:2017-11-28 04:53:25浏览次数:851次

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产品简介

赛黙飞世尔量色散X荧光光谱仪(原美国热电)(ED XRF) *端窗超高通量RH靶,76um铍窗,空气冷却**的大面积高厚度硅锂Si(Li)检测器*全数字化谱分析器 32bit 4096通道*高稳定性:RSD<0.3% 8小时 *检测元素:F~U

详细介绍

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赛黙飞世尔科技 ThermoFisher(美国热电)能量色散X-射线荧光光谱仪(ED-XRF)仪器介绍      
*端窗超高通量RH靶,76um铍窗,空气冷却
**的大面积高厚度硅锂Si(Li)检测器
*全数字化谱分析器 32bit 4096通道
*高稳定性:RSD<0.3% 8小时
*检测元素:F~U

 

 
技术参数

赛黙飞世尔科技 ThermoFisher(美国热电)能量色散X-射线荧光光谱仪(ED-XRF)

样品室:样品类型 固体、粉末、液体、滤渣、镀层和其它
尺寸 30.5cm(w)x38.9cm(D)x6.6cm(H)
增高室(选购件): 21.5cm或37.1cm
单位盘 样品可大至样品室大小
10位盘(选购件) 带自转机构,样品可大至47mm
20位盘(选购件) 样品可大至31mm
自动和手动盘 为特种样品的样品盘,选购件
环境 空气、真空(选购件)和充氦(选购件)

激发(核心元件):
X-光管:超高通量,端窗,RH靶,76um铍窗,空气冷却,其它靶可选
X-光发生器 4-50KV,1KV间隔。O.02-2.OmA,0.02mA 间隔
滤光片 7种滤光片加1空位,自动选择
准直器(选购件) 1.0、2.0、3.5、6.8和8.8 五种

X射线检测配置器(核心元件)
类型:Si(Li)硅锂
晶体面积: 
Si(Li)面积15mm?,分辨率<155 eV
Si(Li)LN Si(Li)面积30mm?,分辨率<149 eV 
晶体厚度: 3.5mm
检测元素:F~U

制冷方式:电致冷/液氮致冷 
稳定性:RSD<0.3% 8小时
灵敏度:Fe, Pb <3pmm(油)
再现性:
RSD<0.3%/1x10负6次方计数

谱处理器(核心元件)
处理器类型:
全数字话 32bit 3 DSP
谱通道:2048 20eV/通道
修正时间:1~40ms, 用户选择
计数率:>100,000cps (live)
能量范围:400~4096eV
死时间影响:<3.0%
重叠校正:<0.3%
能量校正:软件自动

尺寸和重量
外形尺寸宽71.88cm,高41.15cm,深59.18cm
重量 90.7kg

使用要求
电源 100、115或230VAC,50或60hz,功率1000W,真空泵需2000W
遥控诊断和遥控监测需要通过因特网连线

环境要求
温度 O~32℃
湿度 20~80%RH(无冷凝水)

 
赛黙飞世尔科技 ThermoFisher(美国热电)能量色散X-射线荧光光谱仪(ED-XRF) 主要特点

超大Si(Li) 硅锂离晶体,具有*的痕量分析的灵敏度,打破lng的检测限壁垒
全数字脉冲处理器技术,死时间达60%, 以及优异的峰背比
高级FP无标样分析软件,进行无标样分析,减少对标样的依赖性
高灵敏电制冷Si(Li) 探测器技术, 仪器免维护和*运行
超大样品室,可容纳300mm400mm的样品
全自动校准,自动监测,自动报警系统,*计算机控制
镀层和薄膜测量技术, 具有无标样分析测厚技术

数据采集
数字脉冲处理器 全部参数程序控制,自动能量校正
多道脉冲分析器 32位,4096道多道分析器
数据接口 计算机以太网接口

分析处理器和 WinTrace
计算机/打印机 主流计算机和彩色打印机
显示 X-射线能谱,重叠谱比较,峰鉴定标记,分析参数
输出 监视器,图形打印机和调制解调器
自动化 样品室环境,X一射线源输出,滤光片选择,多次激发条件, 和样品选择
谱处理 自动元素鉴定,数字滤波本底扣除,zui小二乘法经验峰去卷积, 总峰强度,和净峰强度
分析技术 经验系数法和基本参数法,归一化,校正曲线图显示
操作系统 微软WindowsXP及更新的版本

参考方法
ASTM方法
D5839-96(2001) X-荧光能谱法测定危险废燃料中痕量元素的标准测试方法
D6052.97 X-荧光能谱法对液体危险废料中元素分析的标准测试方法 。

* 用于美国H.R.4040(HR4040)法规检测(2009年8月实施)
【2008年8月14日,美议会第4040号提案(H.R.4040)生效,此法案对美国消费品委员会(CPSC)进行了重新*,大大加强了CPSC在保证美国消费品安全中的作用,尤其是对儿童玩具及护理产品的要求达到了*的高度。H.R.4040有几项重大变化:检测范围扩大至玩具上任何可触及材料;总铅限呈逐级递减,由600ppm,2009年8月14日起降至300ppm, 2011年8月14日降至100ppm。而儿童产品中油漆等表面涂层材料的要求更为严格,其总铅*将在2009年8月14日后锐减至 90ppm。
H.R.4040不仅使玩具业会面临更为严峻的法律环境,同时对玩具实验室也提出了更高的检测要求。标准的提高对检测仪器的灵敏度、精度、连续稳定性也提出了更高的要求。】 


连续稳定性也提出了更高的要求。】
* ROHS检测、RoHS & WEEE 指令分析 、HR4040标准检测应对
* 气溶胶颗粒滤膜
* 刑侦以及痕量分析
* 营养添加剂
* 磁性磁性介质和半导体

高性能,操作简便WinTrace软件
直观
功能强大
安全
操作灵活,方便用户

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