Surftest（表面粗糙度测量仪）SV-2100:
显示一目了然，操作简单。配备高可见度7.5英寸TFTLCD屏幕。彩色图标显示、触控式面板，显示更清晰，操作更简单。轻松定位使用控制器内置的操纵杆，轻松、快速地定位。小孔内侧的测量，需要对微小测头进行微调。利用手动手柄，实现轻松微调。轻松设置表面粗糙度的测量条件。利用配备的简单输入功能，可按照ISO/JIS粗糙度标准的绘图指令符号进行输入。以往非常麻烦的测量条件设置如今可轻松输入，从菜单上直接选取表面粗糙度的绘图指令符号即可。
Surftest（表面粗糙度测量仪）SV-2100
178系列—带有控制/显示装置
带控制器的高精度，高性能，袖珍型表面粗糙度测量仪，操作简单，显示一目了然。
特点
显示一目了然，操作简单。
配备高可见度7.5英寸TFTLCD屏幕。彩色图标显示、触控式面板，显示更清晰，操作更简单。
轻松定位使用控制器内置的操纵杆，轻松、快速地定位。小孔内侧的测量，需要对微小测头进行微调。利用手动手柄，实现轻松微调。
轻松设置表面粗糙度的测量条件。利用配备的简单输入功能，可按照ISO/JIS粗糙度标准的绘图指令符号进行输入。以往非常麻烦的测量条件设置如今可轻松输入，从菜单上直接选取表面粗糙度的绘图指令符号即可。
技术参数:SV-2100
X轴（驱动部）
测量范围:100mm
分辨率:0.05μm
检测方法:线性编码器
驱动速度:0-40mm/s
测量速度:0.02-5mm/s
移动方向:向后
直线度:0.15μm/100mm
Z2轴（立柱）
类型:手动操作或电驱动
垂直移动:350mm或550mm*
分辨率*:1μm
检测方法*:旋转编码器
驱动速度*:0-20mm/s
*仅适于电驱动型
检测器
范围／分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,
8μm/0.0001μm
检测方法:无轨／有轨测量
测力:4mN或0.75mN（低测力型）
测针针尖:金刚石、90º/5μmR
（60º/2μmR:低测力型）
导头曲率半径:40mm
检测方法:差动电感式
控制器
显示:7.5"带背光的TFT彩显
打印机:内置热敏打印机
放大倍率:水平:X10至X500,000、自动
垂直:X0.5至X10,000、自动
驱动装置的控制:通过操纵杆手动手柄的操作
评估能力
评估轮廓
P（主轮廓）,R（表面粗糙度轮廓）,WC,WCA,WE,WEA,包络
残余线、粗糙度motif、波形motif
评估参数
Ra,Rc,Ry,Rz,Rq,Rt,Rmax,Rp,Rv,R3z,Sm,S,Pc,mr（c）,c,mr,
tp,Htp,Lo,Ir,Ppi,HSC,a,q,Ku,Sk,Rpk,Rvk,Rk,Mr1,Mr2,
A1,A2,Vo,a,q
粗糙度motif参数:R,AR,Rx
波形motif参数:W,AW,,Wte
分析图表
ADC,BAC,功率谱图
数显滤波器
2CR-75%,PC-75%、高斯滤波器、鲁棒样条
截止波长
s:0.25μm,0.8μm,2.5μm,8μm,25μm,250μm、无滤波器
c*:0.025mm,0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm
f:0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm、无滤波器
采样长度（L）*
0.025mm,0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm,80mm
（仅适于SV-2100）
数据补偿功能
抛物线补偿、双曲线补偿、椭圆补偿、R平面（曲面）
补偿、锥面补偿、倾斜补偿
*在0.02mm至50mm的范围内可任意长度。
性能参数：
| 型号 | SV-2100M4 | SV-2100M4 |
| 货号*（mm） | 178-636-01 | 178-636-02 |
| 货号*（inch） | 178-637-01 | 178-637-02 |
| 检测器测力 | 0.75mN | 4mN |
| X轴测量范围 | 100mm | |
| 垂直移动 | 350mm电动立柱 | |
| 花岗岩基座尺寸（D） | 600x450mm | |
| 尺寸（主机、DxH） | 716x450x863mm | |
| 重量 | 144kg | |
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