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X射线装置

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更新时间:2017-12-08 03:49:44浏览次数:749次

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产品简介

X射线装置

详细介绍

•  透明法和 X 射线摄影
•  电离和剂量学
•  X 射线随不同物质和厚度的衰减
•  研究 X 射线源的连续和特征谱线
•  特征谱线和它们的精细结构
•  原子的精细结构和壳层模型
•  与能量有关的吸收和 K 连缘
•  Moseley (莫塞莱)定律和测定 Rydberg (里德堡)频率
•  Comptom (康普顿)效应
•  Duane-Hunt 关系从极限波长测定 Planck ( 普朗克常数 )
•  用于测定个中晶体晶面间隔的 Bragg( 布拉格 ) 反射
•  通过 Laue ( 劳厄 ) 相和 Debye-Scherrer ( 德拜-施拉 ) 摄像术研究晶体结构
•  在多晶金属箔和粉末样品上进行 X 射线衍射,分析晶体结构
•  利用 X 射线进行材料分析


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