TT230涂层测厚仪 返回列表页

TT230涂层测厚仪概述

TT230涡流测厚仪|氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量；可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。

TT230涂层测厚仪符合以下标准：

· GB/T 4957-1985 涡流方法

· JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》

· JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪

TT230涂层测厚仪功能特点

· 采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度
（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）

· 可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正

· 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）

· 具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）

· 具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据

· 设有五个统计量：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差

· 具有米、英制转换功能

· 具有打印功能，可打印测量值、统计值

· 具有欠压指示功能

· 操作过程有蜂鸣声提示

· 具有错误提示功能

· 具有自动关机功能

TT230涂层测厚仪技术参数

· 测头类型：N

· 测量原理：电涡流

· 测量范围： 0-1250um | 0-40um（铜上镀铬）

· 低限分辨力：1µm（10um以下为0.1um）

· 探头连接方式：一体化

· 示值误差： 

1 一点校准（um）：±[3%H+1.5]

1 两点校准（um）：±[（1%~3%）H+1.5]

· 测量条件： 

1 zui小曲率半径（mm）：凸3 | 凹10

1 基体zui小面积的直径（mm）：ф5

1 zui小临界厚度（mm）：0.3

· 温湿度：0~40℃ | 20%RH～90%RH

· 统计功能：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差

· 工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）