芯片计数影像操作手册

制作单位：复旦埃姆维联合研发中心  

制作日期：2011-11-4

目  录

芯片计数影像操作手册 1

一、 行业应用 3

二、 系统说明 3

三、 操作说明 5

四、 系统维护 18

一、 行业应用

    项目背景

晶体管是一种固体半导体器件，可以用于检波、整流、放大、开关、稳压、信号调制和许多其它功能。晶体管实际上是所有现代电器的关键活动元件，被认为是现代历史中zui伟大的发明之一。

在晶体管的生产、封装、运输、销售过程中，都涉及到对晶体管数量进行计算的问题。在现阶段，晶体管的计数主要有人工计数，传感器检测以及图像处理三种方法。其中，图像处理是近年来发展很迅速的学科，利用数字图像处理技术可实现晶体管自动计数，具有响应速度快、计数精度高、设备简单可靠、可实现全自动化和非接触式测量等优点。

二、 系统说明

   1、系统配置

      1）硬件

      影像设备、打印设备、扫描设备、主机设备。

2）软件

       参数设置模块、图像处理模块、计数模块、标签打印模块、结果统计模块、账户设置模块。

  产品主界面如上图所示（其中左上方图标为图片处理按钮）

 2、性能介绍

      1）快速的计算出LED芯片总数，可根据芯片的特性分别输出计数结果

      2）精确度达到两极晶体管误差 < 0.03%，耗时 < 1秒，单极晶体管误差 < 0.5%，耗时 < 3秒

      3）计数的准确性为0.1/%

      4）简便易用

三、 操作说明

1、操作流程

 1）点击图标，进入注册界面，选择注册或免费试用；

2）登录系统, 选择身份进入系统（其中工程师身份Engineer，默认密码为admin；操作员Operator，默认密码为空）

以操作员Operator身份进入系统后，界面如下，没有计数类型选取权限；

    以工程师Engineer身份登录系统，可以进行计数类型的选取，也可新增计数类型；

3） 工程师Engineer身份进入后的参数选取和确认，选择合适的产品类型，对参数进行配置，亦可新建产品类型，该身份还有注册升级，密码修改等权限；

4）对于已有计数类型，可以进行参数配置和修改；

       点击“查看样图，优化设置”，修改后点击“确认修改” 

 5）点击“新增类型”，可以创建新的计数类型；

        A）输入计数类型型号，根据需要选择应用算法选择； 

B）填入必要参数后，点击确认新增；

      C）点击“查看样图，优化设置”，载入样图，出现如下画面，可以设置块长度和块间距；

      D） 放大图片，点击“设置块间距”，截取图像中的块间距，如下图；

       E）点击截图按钮，得到放大后的块间距如下图，点击“开始设置”，得到块间距（再次点击截图按钮即可返回原图）；

     F）同样的方法设置块长度，得到如下块长度的计数值，点击“返回”，新的计数类型即设置完成；

4）点击“开始计数”，即可进入计数主界面

 5）在计数主界面，载入要计数的图片，点击“开始计数”，计数开始；

    （根据需要可以输入工号、班次等信息，也可用直接用相机拍摄要计数的图片）

6）计数完成后，点击“打印标签”，可将计数相关结果打印到标签上，亦可查看数据。

2、参数设置的具体说明

1）“是否需要更精确”:在矩形或者平行四边形晶体管计数的时候一般设置为0，黑

    色块计数的时候设置为1

 2）“相邻亮点阀值”:根据两级晶体管之间的距离设置为3-10不等，一般较远的设

    置为8，一般远近的为6，很近的设置为3

 3）“亮点种类”:根据光照的不同设置为1-3不等，一般光照较暗的设置为3，中 

    等设置为2，很 亮设置为1；（一般平行四边形设为3，矩形块长度较长的设为2）

 4）“方向偏差”:一般设置为 （相邻亮点阀值/2） 或者 3-5不等

 5）“块长度、块间距”:软件有一个ROI截图的功能，点击“块长度”或者“块间

    距”设置后，可以选择截图。截取响应的图片部分后，点击“开始计数”，软件

会提示响应的设置

3、图标使用的具体说明

四、 系统维护

1. 每隔1个月需检测图像效果是否有大的变化，检测镜头防护罩上是否有灰尘、油污等；

2. 如有油污、灰尘等请及时用用擦拭纸擦拭镜头防护罩上的灰尘或油污等；

3. 保存NG产品图片；

4. 系统有较大调整、改动时，请联络复旦埃姆维联合研发中心相关人员！

注意:

系统使用方，请勿改变程序结构和电路结构。若必须修改，请将修改方式书面形式告知系统开发方。若由于自行修改造成的损失，修改方负责任.开发方同意后造成的损失由开发方负责！