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介电常数测试仪的使用(电压击穿试验仪)

2014年09月19日 13:23:43人气:3201来源:北京北广精仪仪器设备有限公司

  介电常数介质损耗测试仪工作特性
  
  平板电容器
  

  极片尺寸:φ25.4mm
  
  极片间距可调范围和分辨率:≥10mm,±0.01mm
  
  园筒电容器
  
  电容量线性:0.33pF/mm±0.05pF
  
  长度可调范围和分辨率:≥0~20mm,±0.01mm
  
  3.夹具插头间距:25mm±1mm
  
  4.夹角损耗角正切值:≤4×10-4(1MHz时)
  
  介电常数介质损耗测试仪工作原理
  
  本测试装置是由二只测微电容器组成,平板电容器一般用来夹持被测样品,园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器,配用仪器作为指示仪器,绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化,由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时,由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。
  
  介电常数介质损耗测试仪使用方法
  
  被测样品的准备
  
  被测样品要求为园形,直径25.4~27mm,这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1~5mm之间,如太薄或太厚则测试精度就会下降,样品要尽可能平直。
  
  下面推荐一种能提高测试性的方法:准备二片厚0.05mm的园形锡膜,直径和平板电容器极片一致,锡膜两面均匀地涂上一层薄薄的凡士林,它起粘着作用,又能排除接触面之间残余空气,把锡膜再粘在平板电容器两个极片上,粘好后,极片呈镜面状为佳,然后放上被测样品。
  
  2.测试顺序
  
  先要详细了解配用仪器的使用方法,操作时,要避免人体感应的影响。
  
  把配用的仪器主调谐电容置于zui小电容量,微调电容置于-3pF。
  
  把本夹具测试装置插到仪器测试回路的“电容”两个端子上,即插入到仪器上方接线铜柱的右边两个圆柱内。
  
  接S914
  
  配上相适应的高Q值电感线圈,选择电感没有特别的方法,只有试或凭经验来选择合适的那个,一般选择使高频仪器显示Q值zui大的电感zui为合适。
  
  注:以上步骤是为了使高频仪器工作起来(仪器是LC谐振工作原理,所以要选择合适的电感才能使仪器谐振)
  
  调节平板电容器测微杆,使二极片相接为止,读取刻度值记为DO。
  
  再松开二极片,把被测样品插入二极片之间,调节平板电容器,到二极片夹住样品止(注意调节时要用测微杆,以免夹得过紧或过松),这时能读取新的刻度值,记为D1,这时样品厚度D2=D1-D0。
  
  注:以上d和e两步是测出被测样片的厚度,方便后面计算介电常数时用。
  
  把园筒电容器置于7mm处(该值不是的,我们一般在测的时候放到7mm处就可以测了,不过有的时候在做到h步0骤时顺时针旋转完刻度了Q值还没有达到一半,这时就要适当的把7mm刻度调整到9mm或更大了)。
  
  改变配合仪器频率,使之谐振,读得Q值。(如果测试材料样片有“要求的测试频率”,那么就先把频率定位到该频率,然后再调节仪器的主调电容,使仪器谐振(即仪器的Q值显示为zui大);如果不知道在频率下测试的话,我们一般把频率放在1MHz下来调试,然后再调节主调电容使仪器工作)。
  
  先顺时针方向,后逆时针方向,调节园筒电容器,读取当仪器指示Q值为原值的一半时测微杆上二个刻度值,取这二个值之差,记为M1。(先记下园筒电容在7mm时仪器谐振时的zui大Q值,即d步骤测得的Q值;然后调节园筒电容器,看仪器的Q值显示为原来的一半时,读取园筒电容器上边的刻度为多少,要顺时针和逆时针旋转两次取两个刻度值;如果园筒电容器顺时针转到0刻度时Q值还没有到一半,那么就要返回到第f步骤把园筒电容器置于9mm处或更大,重新操作)。
  
  再调节园筒电容器,使仪器再次谐振(即把园筒电容器调回到7mm处)。
  
  取出平板电容器中的样品,这时仪器又失谐,调节平
  
  板电容器,使再谐振,读取测微杆上的读值D3,其变化值为
  
  D4=D3-D0。
  
  和h款操作一样,得到新的二个值之差,记为M2。
  
  3.计算测试结果
  
  被测样品的介电常数:
  
  Σ=D2/D4
  
  被测样品的损耗角正切值:
  
  tgδ=K(M1-M2)/15.5
  
  式中:K为园筒电容器线性变化率,一般为0.33。
  
  4.其他应用使用方法
  
  使用本测试装置和仪器配用,对绝缘材料以及其他高阻性能的薄材,列如:纸张、木材、粉压片料等,进行相对测量,其测试方法就非常简便、实用,采取被测样品和标准样品相比较方法,就能灵敏地区别二者之间的轻微差别,例如含水量、配用原料变动等等。
  
  测试时先把标准样品放入平板电容器,调节仪器频率,谐振后读得Q值,再换上被测样品,调节园筒电位器,再谐振,看Q值变化,如Q值变化很小,说明标准样品和被测样品高频损耗值一致,反之说明二者性能有区别,如园筒电容器调节不能再谐振,通过调节仪器频率才能谐振,且频率变化较大,说明被测样品和标准样品的配用原材料相差较大。
  
  介电常数介质损耗测试仪维修方法
  
  本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备,所以在使用和
  
  保存时要避免振动和碰撞,要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存,不能自行拆装,否则其工作性能就不能保证,如测试夹具受到碰撞,或者作为定期检查,要检测以下几个指标:
  
  平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。
  
  园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。
  
  保证二个测微杆0.01mm分辨率。
  
  用精密电容测量仪(±0.01pF分辨率)测量园筒电容器,电容呈线性率,从0~20mm,每隔1mm测试一点,要求符合工作特性要求。
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