高度优化的导通性和关断性以及低导通损耗(lowturn-onloss),让全新的改进型IGBT特别适用于执行工作频率高达20kHz的硬开关电路(hard-switchingcircuit);zui高工作温度提高至175°C,宽安全工作范围(SOA,safeoperatingarea)无闭锁效应(latch-upfree),150°C时的短路耐受时间(short-circuitwithstandtime)为10µs,这些特性确保新产品在恶劣的外部电气环境中具有更高的可靠性。
新产品所用的第三代技术包括新的*的沟栅结构设计和优化的高压IGBT架构,可以zui大限度地降低电压过冲(voltageovershoot),消除关断期间出现的振荡现象(oscillation),有效降低电能损耗,简化电路设计。与此同时,低饱和电压(Vce(sat))可确保新产品具有很高的导通能效。正温度系数和窄饱和电压范围可简化新产品并联设计,有助于提高功率处理能力。
新产品还受益于提升的导通能效。此外,新产品与IGBT反向并联(anti-parallel)的新一代二极管一同封装,具有快速的恢复时间和增强的恢复软度特性,且导通损耗没有明显上升,进而实现更出色的EMI性能表现。
40ASTGW40M120DF3、2STGW25M120DF3和1STGW15M120DF3三款产品采用标准的TO-247封装,STGWA40M120DF3、STGWA25M120DF3和STGWA15M120DF3三款产品采用TO-247长引脚封装,目前均已开始量产。
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