LabVIEW开发USB收发仪的自动测试

北京瀚文网星科技有限责任公司使用低速和全速USB收发仪和一个具有板载开关、继电器和接口的自定义特性化板卡，以将高速数字I/O板卡的矢量传输到DUT。

该装置由多个模块化仪器组成，包括两个NI PXI-4110可编程电源和两个NI PXI-4065数字万用表(DMM)，用于在不同测试应用下测量电流。 我们使用两个NI PXI-6552高速数字I/O模块来提供每个DUT的测试模式和参考范例，并根据测试规范将其配置为特定模式。 我们选择使用NI PXI模块化仪器来开发我们的应用是因为这些设备为测试台提供了强大的高性价比平台，可满足我们的系统需求。

此外，测试台还包括了一个数字存储示波器和一个外部函数/任意波形发生器。 我们结合用于温度特性化的Thermostream使用这些仪器来获得测量结果，在-40到85℃的温度范围内进行特定温度的测量。

使用PXI模块化仪器测试静态特性

在静态特性测试中，我们使用PXI-6552数字I/O模块根据测试规范将DUT和参考样品设置为特定模式。 PXI-6552减少了特性化板卡所需的繁琐布线。 我们基于测试规范和特性化方案在几个步骤内开发了测试序列以及用于DUT和参考样品的可控电源，以确保芯片的正确运行。 此外，我们还使用PXI-4065 DMM来测量电流。 我们需要对DUT施加多个电压，并使用NI TestStand通过测试序列控制这些电压。 我们获得了多个运行模式下的DUT测量结果，并使用NI TestStand将结果记录到连接局域网(LAN)的数据库服务器。

使用NI软件和PXI进行动态特性测试

测试台也可用于验证DUT的动态参数。 我们使用PXI-6552模块根据下载到DUT和参考样品的USB规范创建用户自定义模式， 使用示波器和这个测试台来测量上升时间、下降时间和USB差分信号传播延迟等动态参数。 我们还使用LabVIEW、NI LabWindows™/CVI和NI TestStand软件开发了用于示波器、信号发生器和Thermostream的仪器驱动程序。 这个测试台的主要目标是在各种电压和温度设置下获得不同硅样品的大量高精度数据。

USB 2.0的电气兼容性测试

USB2.0有三种不同的数据传输速率 - 低速1.5 Mbps、全速12 Mbps和高速480 Mbps。 这三个数据速率可以同时存在于USB设备网络。 这使得用户能够灵活地搭配不同的外设来满足各种速度和吞吐量需求。 鉴于USB-IF制定的严格法规和符合性测试，灵活性就成为USB的主要优势之一。 如果要证明合规性和并获得USB-IF认证，需要设备使用USB-IF认准的测试工具来进行信号完整性、电流和电压参数以及数据完整性测试。

对于信号质量测试，我们使用示波器来观察发送和接收的信号。 示波器可用于测量一系列参数，包括信号眼图、包尾宽度、信令速率、上升/下降时间、交叉电压和抖动等。 我们将测量过程中采集的数据存储到缓冲存储器，并在NI TestStand中使用USB-IF工具来分析信号完整性并生成附有合格/不合格标准的报告。 测试台通过集成USB-IF测试工具与NI TestStand和NI LabVIEW提供了全功能的USB测试解决方案。

报告生成和分析

我们使用NI TestStand将测试台特性测试步骤和测量结果存储在的数据库服务器进行数据管理和分析。 我们的团队开发了一个工具，可使用MySQL作为DBMS从数据库中提取信息并分析数据，同时也可使用PHP和HTML进行处理能力(Cpk)等统计计算并生成测试报告。 除了报告生成和分析外，测试台还具有账户管理功能，可设置不同级别的用户权限来查看特定数据。 用户可以选择和生成具有特定属性的报告，高亮显示较差的处理功能，并将原始数据导出到Microsoft Excel。

优化硅芯片特性化的测试时间和质量

北京瀚文网星科技有限责任公司的系统装置集成了NI PXI模块化仪器，以提高测试台特性化的质量。 借助NI PXI模块化仪器，我们的设置可移植且可部署到系统验证测量，而且测试台特性化的时间从几个月缩短到几周。 除了减少时间和精力，测试台特性化的测量数据还可与自动化测试设备(ATE)的设置相关联，这通常需要花费更多时间和精力。 测试工程师可以快速查看结果，以确定是否需要额外的测试，从而降低整体测试时间。 zui后，我们的报告生成方法还可优化数据管理，并通过互联网提供测试结果。