影响2.5次元测量仪测量效率的因素
2.5次元测量仪广泛应用于电子生产企业，该仪器测试可以减少浪费和缺陷产品的机会，并可以提高企业产品的质量。与三维测量仪器相比，从二次元影像测量仪的测量功能可以看出成像仪的测量功能比三维测量仪稍微简单，因为它只能检测二维数据简单的工件。但是，在高精度测量仪器的开发中，它的位置和功能并不像CMM那样简单。
那么，影响二次元影像测量仪测量速度的因素有哪些，下面小编给大家介绍一下：
1、测量的方式
该仪器效率之所以高，是因为其使用的是自动测量程序。自动测量程序的应用不仅可以提高测量的精度，在批量测量的速度上面也会提高很多。
2、数据处理的方式
在进行数据处理分析是在后台进行直接运算的，并同步输出测量结果，因此图像分析和计算机处理也对影像测量仪的测量速度有所提高。
3、光源的配置
如果光源配置的不能满足需求的话，那光源不丰富，对于一些弱边倒角的成像不够清晰，软件的图像分析和模糊控制又不够优异，在测量过程中如果抓取到错误的边界，测量人员是可以实时看到的。那么停下来再去手动修改该步骤，不仅会浪费很多时间，而且会严重影响测量准确性、大大降低测量效率。
4、高度测试方式
目前的产品以三维零件居多，如果该仪器只能够测量二维尺寸，高度方向借助接触式的方式，会降低检测效率。所以，非接触测量三维尺寸的测量仪对于测量速度的提高是的。
关键词：测量仪器
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