电容器温度特性评估系统功能与应用

系统概述

电容器温度特性评估系统是将环境试验箱与评估系统相结合，高效采集数据的自动化多通道系统。系统自动评估高温和高温/高湿环境下电容器的绝缘退化特性。系统通过精确控制温度环境，并测量电容器在不同温度下的关键参数（如电容量（C）、损耗因子（D）和阻抗（Z）等参数值），从而评估其温度特性。该系统通常具有高精度、高稳定性和高可靠性的特点，能够适用于各种类型的电容器，包括多层陶瓷电容器（MLCC）、陶瓷电容、薄膜电容等。

应用领域

通信与信息技术：在通信设备和信息技术产品中，电容器也扮演着重要角色。多通道电容器温度特性评估系统可以提供高效的测试方案，确保产品在各种温度环境下的稳定性和可靠性。

电子材料：印刷电路板、通量、绝缘材料（树脂、薄膜等）、介电材料（钛、陶瓷、钽、铝电解材料等）。

产品优势

1.最多64个通道的自动测量

可以测量不同温度环境下的电容量 (C)、损耗因子(D) 和阻抗 (Z) 的多通道。可以选择8个通道的倍数，最多64个通道。

2.图形功能允许实时查看测量结果

收集的数据，包括不同温度、频率和时间下的电特性值和变化率，可以通过各种图形函数进行实时审查。

3.可从不同测试模式选择

温度特性评价试验、恒定运行试验和频率特性试验。测试可与温度特性评价测试或恒定运行测试相合。

  》 温度特性评估测试

   在此测试模式下,自动记录特性数据,并与温度变化同步,频率步数201步(范围可定制)。

  》 持续运行测试测试

   模式测量以下参数的变化特定中随时间推移的特征自动记录数据。

  》 频率特性评价试验

   试验模式在特定温度环境下改变频率的同时，自动记录不同频率下的特性数据。

4.多种可选夹具 适用于不同的试验样本（可选）

除了 SMD 组件的专用夹具外，还提供了根据离散设备形状定制的夹具。

技术指标

1.测量项目：电容量 (C)、损耗系数 (D)、阻抗 (Z)、电阻 (Rs，Rp) 和电感 (Ls，Lp)

2.测试方法：温度特性评价试验（相对于温度的变化）

恒定运行检测（相对于检测时间的变化）

频率特性评价试验 （相对于频率的变化）

3.通道配置：8通道（标准）；最大值64通道可扩展8通道增量

4.测量方法：交流四端对测量

5.测量范围：测量频率：20 Hz ~ 1 MHz

电容量 (C)：50 pF ~ 5 mF

损失因子 (D)：0.00001 ~ 9.99999

阻抗 (Z)：0.00001Ω ~ 99.9999 MΩ

6.测量仪器：LCR 表 （可按需选择型号）

7.直流偏压：0 ~ ±40V

8.温度测量间隔：1 ℃

9.扫描周期：64通道可在1min之内完成

10.频率步长：201步（范围可定制）

11.补偿：短时补偿，开放补偿

12.环境试验系统控制：使温度数据采集与测量和的温度控制同步，具有RS-485功能的环境测试系统

13.测量电缆：由聚四氟乙烯制成的同轴电缆 （特性阻抗 (Z)，50Ω，95 pF/m）