电阻应变片的工作原理是基于应变效应制作的,即导体或半导体材料在外界力的作用下产生机械变形时,其电阻值相应的发生变化,这种现象称为“应变效应”。 半导体应变片是用半导体材料制成的,其工作原理是基于半导体材料的压阻效应。压阻效应是指当半导体材料某一轴向受外力作用时,其电阻率发生变化的现象。 应变片是由敏感栅等构成用于测量应变的元件,使用时将其牢固地粘贴在构件的测点上,构件受力后由于测点发生应变,敏感栅也随之变形而使其电阻发生变化,再由仪器测得其电阻变化大小,并转换为测点的应变值。 金属电阻应变片品种繁多,形式多样,常见的有丝式电阻应变片和箔式电阻 应变片。 箔式电阻应变片是一种基于应变——电阻效应制成的,用金属箔作为敏感栅的,能把被测试件的应变量转换成电阻变化量的敏感元件。 除了电阻应变片这种传统的应变测量方法之外,目前已有研究通过光学测量的方法的应变片。光学应变片是通过摄像头采集应变片图像,按照数字图像处理的办法测量。使用光学应变片的方法的优势在于测量多角度的应变,避免了电阻应变片繁琐的接线以及不能测量多个方向的弊端。
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