介电常数介质损耗测试仪

ZJD-A型介电常数介质损耗测试仪

一、概述：

      ZJD-A型介电常数介质损耗测试仪是一种通用的，多用途，多量程的高频阻抗测量仪器。它可测量高频电感器，高频电容器及各种谐振元件的品质因数（Q值）、电感量、电容量、分布电容、分布电感，也可测量高频电路组件的有效串、并联电阻、传输线的特征阻抗、电容器的损耗角正切值、电工材料的高频介质损耗、介质常数等等。因而高频Q表不但广泛用于高频电子元件和材料的生产、科研、品质管理等部门、也是高频电子和通信实验室的常用仪器。它的测试回路采用了优化的设计、优质的介质材料和优良的涂覆工艺使残值减少。其高频信号源是采用DDS数字合成、Q值测定和显示部分运用了微机技术和智能化管理，数码锁定信号源频率，谐振回路自动搜索，测试标频自动设置技术，使得测试精度更高，使生产线分选测试速度大增。

二、技术参数：

Q值测量：1-999 三位数显，自动切换量程，可手动设置测量量程

固有误差：≤5%±满度值的2%

工作误差：≤7%±满度值的2%

电感测量：0.1μH-1H 误差<5%±0.03μH

测试频率：10kHz-60MHz 五位数显 DDS数字合成

具有频标自动设置,自动搜索谐振点,Q值合格设置,声光指示

频率误差：3×10-5±1个字

调谐电容：主电容：40-500PF 误差<±1%或 1PF

微调电容：±3PF 分辨率0.2PF

三、夹具工作特性 ：

1.平板电容器：

极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm可选

极片间距可调范围：≥15mm

2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm

3. 夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

4．测微杆分辨率：0.001mm

四、配置：

主机一台

电感九支

夹具一套

随机文件一套

相关型号：ZJD-B

           ZJD-C