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X荧光光谱分析仪iEDX-150WT(镀层测厚仪)

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称深圳市维创兴电子科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       号iEDX-150WT
  • 所  在  地
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2022/10/26 12:16:43
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深圳市维创兴电子科技有限公司是一家集实验室仪器,信赖性仪器,化学分析设备于一身的从研发到销售的,主营业务涉及电子、五金、PCB行业的精密仪器代理、销售、维修、新仪器的研发、设计、生产、销售、升级、改造等,主要产品有:CVS电镀溶液分析仪,牛津CMI系列的孔铜、面铜测厚仪,韩国 ISP 系列的X射线荧光镀层测厚仪,美国Zmetrix及奥特为的差分时域TDR阻抗测试仪,X-RAY无损检测设备,线宽线距测量仪等线路板行业检验与量测设备。自公司成立以来我们不断精益求精,创造出符合国际规范、行业规范的产品,从产品研发到售后服务,每一个环节都以客户的观点与需求作为思考的出发点,并以*的加工设备,的生产工艺,严格的管理体系,雄厚的技术实力和良好的品牌价值赢得许多国内外厂商的信赖与支持。经过多年的积极开拓,锐意进取,我们已经获得韩国ISP一级代理资质,成都奥特为的代理资格,获得美国Zmetrix的代理权,CPCA会员企业,国家评定,深圳市*评定等。我们的努力同时获得了市场和客户的高度认可,客户包括南亚电路板,广东世运,竞华电子,金新诺股份,科惠、恩达、星河电路、广东骏亚、奥士康,中京等,未来,维创兴人将一如既往的在印制线路板行业加强技术创新,不断提高产品品质,提升服务质量,持续研发符合相应标准,满足客户需求的高科技产品,大力推广品牌战略,将公司建设成行业精密仪器设备及解决方案的专业、诚信、可靠、信赖的优秀供应商。
X荧光光谱分析仪iEDX-150WT(镀层测厚仪)
X荧光光谱分析仪iEDX-150WT(镀层测厚仪) 产品信息

X荧光光谱分析仪iEDX-150WT(镀层测厚仪)

详情介绍


一、产品概述

产品类型: X荧光光谱仪 

产品名称: 镀层测厚仪 (可选配镀液检测,RoHS检测,合金分析功能)

   号: iEDX-150WT

商: 韩国ISP公司

二、产品优势

1. 镀层检测,最多镀层检测可达5层。

2. 对于薄镀层分析精确,可以精确的分析小于1uin(0.025um)的镀层,可以准确分析0.2-0.5uin的金层。

3. 可同时进行选配RoHS检测功能,精确的测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属,测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。

4. 可同时进行选配镀液药水分析功能,一分钟即可分析出药水内金,镍,铜等药水含量,分析精度为0.01ppm,

5. 可同时进行选配合金成分分析功能。

6. 开槽式超大可移动全自动样品平台610*525 (长*宽),样品移动距离可达112*2X5mm(长*宽*高) ;专为线路板行业研制。

7. 激光定位,可以连续自动多点程控测量;

8. 可以选配多准直器系统,单准直器/6个准直器/7个准直器。

9. 可检测固体、液体、粉末状态材料;

10. 运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低;

11. 可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析;

12. 操作简单、易学易懂、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结果(20-40秒);

13. 标配德国AmptekSI-Pin 探测器,选配高精度硅漂移SDD探测器,保证测试精度。

14. 软件支持无标样分析。

15. 相对于传统镀层,开机不需要预热,可以可以测量,测量后可以直接关机,节约用电,减少关键部件(X射线管,高压等)消耗,并减少了等待时间。
三、产品配置及技术指标说明


 

标配

选配

X射线管

高稳定性X光管,使用寿命长(工作时间>15,000小时)。

MO (鉬)靶,铍窗口, 光斑尺寸75um,油绝缘,气冷式,辐射安全电子管屏蔽。

50kV,1mA,高压和电流设定为应用程序提供性能。

高稳定性微焦点X光管,使用寿命(工作时间>15,000小时)。

MO (鉬)靶,铍窗口, 光斑尺寸50um,油绝缘,气冷式,辐射安全电子管屏蔽。

50kV,1mA,高压和电流设定为应用程序提供性能。

平台

固定平台

软件程序控制步进式电机驱动X-Y轴移动大样品平台。激光定位、简易荷载负载量为5公斤,控制程序进行持续性自动测量。

平台尺寸:610*525mm (长*宽*高)

样品移动距离:112*2 X5 mm(X*Y*Z)

准直器

单准直器系统 0.2/0.3MM选1个

0.05/0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm共7种准直器规格可选,客户可最多选7种准直器尺寸,可定制特殊尺寸准直器。

探测器

半导体Si-PIN 探测器,分辨率159eV,

高分辨率硅漂移SDD探测器,分辨率可达到125eV.

滤光片

初级滤光片:Al滤光片,自动切换

/

样品定位

显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能

/

视频系统

高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统。

观察范围:3mm x 3mm。

放大倍数:40X。

/

附件

含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标

/

软件

标配Multi-Ray镀层分析软件

1、选配ROHS分析软件

2、选配合金分析软件

3、选配药水分析软件

 检测元素范围

Al (13) ~ U(92)

/

分析样品类型

液体/固体/粉末

/

四、iEDX-150WT型号光谱仪软件功能

1) 软件应用
- 单镀层测量
- 线性层测量,如:薄膜测量
- 双镀层测量
- 针对合金可同时进行镀层厚度和元素分析
- 三镀层测量。
- 无电镀镍测量
- 电镀溶液测量
- 吸收模式的应用 DIN50987.1/ ISO3497-A2

    - 励磁模式的应用DIN50987.1/ ISO3497-A1
- 基本参数法可以满足所有应用领域的测量

2) 软件标定
- 自动标定曲线进行多层分析

- 使用无标样基本参数计算方法

- 使用标样进行多点重复标定

- 标定曲线显示参数及自动调整功能

3) 软件校正功能:
- 基点校正(基线本底校正)

- 多材料基点校正,如:不锈钢,黄铜,青铜等

- 密度校正

4) 软件测量功能:
    - 快速开始测量

- 快速测量过程

- 自动测量条件设定(光管电流,滤光片,ROI)

5) 自动测量功能(软件平台)

- 同模式重复功能(可实现多点自动检测)

- 确认测量位置 (具有图形显示功能)

- 测量开始点设定功能(每个文件中存储原始数据)

- 测量开始点存储功能、打印数据

- 旋转校正功能

- TSP应用

- 行扫描及格栅功能

6) 光谱测量功能

- 定性分析功能 (KLM 标记方法)

- 每个能量/通道元素ROI光标

- 光谱文件下载、删除、保存、比较功能

- 光谱比较显示功能:两级显示/叠加显示/减法

- 标度扩充、缩小功能(强度、能量)

7) 数据处理功能

- 监测统计值: 平均值、 标准偏差、 值。

- 最小值、测量范围,N 编号、 Cp、 Cpk,

- 独立曲线显示测量结果。

- 自动优化曲线数值、数据控件

8)其他功能

- 系统自校正取决于仪器条件和操作环境

- 独立操作控制平台

- 视频参数调整

- 仪器使用单根USB数据总线与外设连接

- Multi-Ray、Smart-Ray自动输出检测报告(HTML,Excel)

- 屏幕捕获显示监视器、样本图片、曲线等.......

- 数据库检查程序

- 镀层厚度测量程序保护。

9) 仪器维修和调整功能

- 自动校准功能;

- 优化系统取决仪器条件和操作室环境;

- 自动校准过程中值增加、偏置量、强度、探测器分辨率,迭代法取决于峰位置、 CPS、主X射线强度、输入电压、操作环境。


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