场发射透射电子显微镜

失效分析是在提高产品质量，技术开发、改进，产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义，是根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的原因，挖掘出失效的机理的活动。

我们为客户提供的电静检测分析服务为：场发射环境扫描电子显微镜、钨灯丝扫描电子显微镜、冷场发射扫描电子显微镜、透视电子显微镜、场发射透射电子显微镜。

型号：Tecnai G2 F20 S-Twin

厂家：美国FEI 公司

主要用途：

1.该电镜是一台功能强大的材料分析型电子显微镜，广泛应用于生物、医药、化工、金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域，可对材料的粒度、形貌、成分、内部结构和缺陷进行分析；

2.其配备的STEM/HAADF附件可以成和原子序数相关的像，和能谱仪结合还可以很方便的测量样品微区元素的线分布和面分布，对于高分辨像的解析非常有利

3.像素高达2K×2K的CCD可以及时将电子显微像转换成数字照片进行输出，方便用户。

主要配置：

Gatan 894 CCD（2K×2K）

STEM/HAADF探测器

美国EDAX能谱仪

低剂量曝光

单倾样品杆、双倾样品杆、低背景双倾样品杆

性能指标：

1.场发射电子枪

2.加速电压：20-200 kV连续调节

3.放大倍数：25-1,000,000

4.点分辨率：0.24nm

5.线分辨率：0.102nm

6.信息分辨率:≤0.14nm

7.STEM分辨率：0.20 nm

8.STEM放大倍数:200-100,000,000

9.EDS分辨率:优于136 eV，分辨元素范围B5-U92

10.MAX样品倾角：±40°