37DLPLUS超声波测厚仪

主要特性
涂层/基体厚度同时测量技术
氧化皮厚度测量技术
温度补偿技术
平均值/*小值模式
A扫描显示更清晰
多种探头选择：单晶、双晶、接触式、延迟式、水浸式
“干式”厚度测量（EMAT探头）
自动探头识别，
探头频率: 2 – 30MHz （-3dB）
测量范围：0.080 - - 635mm; 精度：0.1/0.01mm
材料声速范围：0.5080 – 13.9979mm/μS
多种测量模式
大容量数据存储

　 37DL PLUS 腐蚀厚度仪/超声波测厚仪标准配置：
带有波形的37DL PLUS型数字超声厚度仪， 50-60 Hz交流或电池供电
• D790-SM探头，5.0兆赫, 0.434英寸 (11毫米) 端部直径，温度范围 -5° 到932°F
• 充电器/AC (100， 115， 230 VAC)
• 内置数据存储器
• WIN37DL PLUS界面程序
• 试块，耦合剂
• RS-232 I电缆
• 带脖套的保护袋
• 操作手册
• 两年保修单
• 测量特点： 透过涂层、透过漆层回波对回波、EMAT兼容、*小/*大值模式、双报警模式、差值模式、 B扫描，应用自动调用、温度补偿、 平均值/*小转换模式。

37DL PLUS 腐蚀厚度仪/超声波测厚仪选购件：
37DLP/EW 第三年保修单
WIN37DL PLUS/CCG (Color-coded Grid 软件)
36CA/EC-115 外置快速充电器， 115 VAC
37DLP/SU/OXIDE 测量锅炉管道和内部氧化物的软选择件
1/2XA/E110 EMAT 探头适配过滤器

37DL PLUS 腐蚀厚度仪/超声波测厚仪特点：
Panametrics-NDT™ 37DL PLUS是美国泛美公司一款*的超声测厚仪，它替代了36DL PLUS超声波测厚仪,它结合了强大的测量能力和*的数据采集和输出能力，适用于测量有内部腐蚀或锈蚀的管材、箱体和其它金属构件。37DL PLUS具有许多**特性，即便在外表有涂层或镀层的情况下，亦可轻易完成金属实际厚度的测厚。新增透过涂层技术，利用一次背反射回波，测量和显示金属基底厚度和涂层厚度。新增氧化皮/沉积物测量功能（选择项），测量和显示锅炉管道内壁钢基底厚度和氧化皮沉积物的厚度，从而有助于管道寿命的预测。**的高温厚度测量可以利用新增温度补偿功能，随温度变化调节材料的声速。新增平均值/*小值模式，保存几个相继测量值的平均值或*小值。

37DL PLUS 腐蚀厚度仪/超声波测厚仪性能指标：
• 新增透过涂层技术，利用一次背反射回波，测量和显示涂层厚度和金属基底厚度。
• 新增温度补偿功能，补偿了材料随温度变化而引起的声速变化。
• 新增氧化皮/沉积物测量功能（选择项），测量和显示钢基底厚度和氧化皮沉积物的厚度。
• 新增平均值/*小值模式，保存几个相继测量值的平均值或*小值。
• 新的A扫描显示，更好的对比度和可见性，显示更加清晰。
• 新增的使用不同排列方式的单晶片和双晶片接触式、延迟式或水浸式探头。
• 使用EMAT探头，透过氧化皮对钢表面无耦合剂的厚度测量。
• 基于文件的字母数字的存储器，可以使用更长的文件名 (*多32字符) 和ID号 (*多20字符) 。
• 改善：存储在B扫描中的每个厚度读数可以在WIN37DL PLUS界面程序和测量仪上浏览。
• 改善： 选择查看栅格结点标记 (*小/*大，报警方式或A扫描) 。
• 网格文件可以通过增加行、列或改变增量方向进行扩展。

*的超音腐蚀测量仪

改善
给电子学领域，新型37DL PLUS为很多标准测量方式带来**。新的A扫描显示，更好的对比度和可见性，使显示更加清晰。存储在B扫描中的每个厚度读数可以在N37DL PLUS界面程序和测量仪上浏览。用户可选择查看栅格结点标记 (*小/*大，报警式或A扫描) 。基于文件的字母数字的存储器，可以使用更长的文件名 (*多32字符) 和ID号 (*多20字符) 。网格文件可以通过增加行、列或改变增量方向进行扩展。

新型探头
37DL PLUS可以使用不同排列方式的双晶片和单晶片探头。探头自动识别功能，可对按线型排列的每个D790系列双晶片探头进行识别，从而得到*佳测量结果。37DL PLUS还可使用电磁超声探头E110-SB EMAT，透过氧化皮对钢表面无耦合剂的厚度测量。M2017和M2091探头*适合于对锅炉管道内壁氧化沉积物的测量。37DL PLUS 与Panametrics-NDT的频率范围从2到30兆赫的Microscan探头系列兼容，包括：单晶片接触式、延迟线式和水浸式探头。此外，该测量仪亦可用于非腐蚀材料诸如塑料、玻璃纤维、复合材料、橡胶、铸件、橡胶和玻璃的测量应用。应用自动调用功能，可从其存储器中自动调用16个缺省的和 10个Microscan探头设置。

透过涂层技术
这个**技术，利用单一的背反射回波测量金属的实际厚度。37DL PLUS可以显示金属和涂层厚度，其中每一种都相应调整材料声速。 可将测厚仪设置为仅显示金属的实际厚度。测量无需去除表面的油漆或涂层。 透过涂层测量使用新型D7906-SM和D7908双晶片探头。
37DL PLUS用单一的背反射回波，自动计算和显示涂层厚度 (0.019英寸) 和金属厚度 (0.284英寸) 。

温度补偿
材料温度的变化，引起声波在其中传播速度的变化，进而影响测量的精度。温度补偿功能允许用户输入校准块的温度值，并且手动或自动输入测量点当前(高)温度。37DL PLUS将显示在校正温度下的厚度值，并将其存入内置数据存储器。
校准温度与材料本身温度差值为932°F， 0.376英寸的厚度读数，将可补偿材料声速的变化。
DB栅格视图
改善的栅格视图特点允许用户对应每个栅格点选择查看*小/*大值、报警或者A扫描的标记。 这允许用户通过文件迅速扫描和找出*小/*大值、报警或者A扫描的位置。
标记清晰地表明(H)高值报警和(L) 低值报警的厚度测量值。
氧化皮/沉积物测量（选择项）
这一新增可选项，使用*的算法测量锅炉管道内壁氧化皮或沉积物的厚度。测量仪同时显示锅炉管道的金属基底厚度和氧化皮的厚度，从而有助于管道寿命的预测。此项应用，我们推荐使用M2017或M2091探头。

37DL PLUS 腐蚀厚度仪/超声波测厚仪技术参数：
双晶片测量方式：从激励脉冲到**个回波之间的**延时
透过涂层测量：利用一次背反射回波（使用D7906-SM 和 D7908 探头），测量涂层厚度和真实金属厚度。
透过漆层回波对回波：消除漆层或涂层，在两个连续背反射回波之间的时间间隔。
单晶片测量模式：
模式1：测量激励脉冲和**个背反射回波之间的时间间隔。
模式2：测量在激励脉冲之后的**个界面回波与**个背反射回波之间的时间间隔。使用延迟线或水浸式探头。
模式3：测量在激励脉冲之后，位于**个界面回波之后的相邻背反射回波之间的时间间隔。使用延迟线或水
浸式探头
氧化皮/沉积物测量功能（选择项）：测量金属基底厚度和管子内壁氧化皮沉积物的厚度。
氧化皮沉积物的厚度范围：
M2017: 0.010 - 0.050英寸 (0.25 - 1.25 毫米)
M2091: 0.006 - 0.050英寸 (0.15 - 1.25 毫米)
厚度范围：: 0.003 - 25.000 英寸 (0.080 - 635.00毫米), 取决于材料、探头、表面条件、温度和设置选择。
材料速度速率范围: 0.020 - 0.551 英寸/微秒 (0.508 - 13.998 毫米/微秒)
显示精度，任选：
低: 0.01英寸 0.1 毫米
标准: 0.001英寸 0.01 毫米
电池： 6 伏镍镉可充电电池组，或现场可替换的碱性“AA”电池。
电池寿命：额定25小时（正常测量模式，背光关闭）
快速充电器： 2小时快速充电器，使用通用电压
探头频率范围:　2-30 兆赫 (-3 dB)
工作温度:　-10°C 到 +50°C (+14° 到 122°F)
键盘： 密封、触摸式、声音反馈的彩色键盘。
机箱: 带有密封连接器的防水, 接口密封的聚碳酸脂材料箱子。符合IP-65标准。
液晶显示器： 带有背光照明、对比度面板可调。 显示区域　4.0 x 3.39 英寸 (102 x 86 毫米)
危险区域操作：根据MIL-STD-810E 规定，方法 511.3，步骤1 。
整流：射频波、正半波、负半波，以及全波整流。
显示范围和延迟控制
公制、英制单位
尺寸：9.375 x 5.45 x 1.5英寸 (238 x 138 x 38 毫米)
重量： 2.1磅(0.95公斤)
内置数据存储器
通过RS-232串口，37DL PLUS可识别、存储、调用、**以及传输厚度读数、波形图像和仪器设置信息。波特率、字节长度、停止位以及奇偶位可以在面板上调节。
*大存储量：60,000 厚度读数或4,500 个带厚度的波形。
文件名、ID号和注释：32位字符文件名，20位字符数字字母位置码，每个位置码代表4种注释。
文件结构： 7 个标准文件结构或用户针对应用定义的文件结构。
报告： 在仪器上带有概要统计的报告、*小/*大值及其位置，文本比较以及报警报告。屏幕上显示当前读数和先前读数的比较。