TPK240高精度涂层测厚仪 tpk240

TPK240高精度涂层测厚仪

测量范围：(0～1250) μm（F1、N1测头），F10测头可达10mm
分 辨 率：0.1μm (F1、N1测头)
示值精度：±(2%H+1) μm; H为被测涂层厚度
显示方法：128*64点阵液晶LCD
存储容量：可存储5组（每组*多100个测量值）测量数据
单 位 制：公制（μm）、英制（mil），可自由转换
工作电压：3V（2节5号碱性电池）

点击淘宝下单

技术参数：

·测量范围：(0～1250) μm（F1、N1测头），F10测头可达10mm；

·分辨率：0.1μm (F1、N1测头)

·示值精度：±(2%H+1) μm; H为被测涂层厚度

·显示方法：128*64点阵液晶LCD

·存储容量：可存储5组（每组*多100个测量值）测量数据

·单位制：公制（μm）、英制（mil），可自由转换

·工作电压：3V（2节5号碱性电池）

·持续工作时间：大于200小时（不开背光时）

·通讯接口：USB通讯接口，可与PC机连接、通讯

·外形尺寸：115mm×67mm×31 mm

·整机重量：340g

点击淘宝下单

功能特点：

·有多种测头类型可供选择，通过选择相应的测头，既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；

·测头接触部件镀硬铬或为红宝石，经久耐用；

·自动识别探头

·可设定上下限值，测量结果大于等于上下限数值时，仪器会发出相应的声音或闪烁灯提示。

·通过屏显或蜂鸣声对错误进行提示

·设有五个统计量：平均值（MEAN）、值(MAX)、值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)

·具有测头零点校准、一点校准、两点校准功能, 并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；

·可选择配备微机软件，具有传输测量结果、测值存储管理、测值统计分析、打印测值报告等丰富功能；

·采用铝制外壳，小巧、便携、坚实耐用，适用于恶劣的操作环境，抗振动、冲击和电磁干扰。

点击淘宝下单

标准配置：

主机 1个

测头 1个

校准片 5片

校零基体 1个

电池 2节

说明书 1本

保修卡 1个

仪器箱 1个