半导体分立器件测试仪

半导体分立器件测试仪

半导体分立器件测试仪

一、产品特点:
测试晶种覆盖面广、测试精度高、电参数测试全、速度快、有良好的重复性和-一致性、工作稳定，具有保护系统和被测器件的能力，且具有图示功能。测试仪由计算机操控，测试数据可存储打印。除具有点测试功能外，还具有曲线扫描功能( 图示仪功能)。系统软件功能全、使用灵活方便、操作简单。系统软件稳定、硬件故障率低，在实际测试应用中各项技术指标均可达到器件手册技术指标

二、测试参数:
1:二极管
VF、IR. BVR 随机附件
2.稳压 (齐纳)二极管
VF、IR、BVZ
3.晶体管
Transistor (NPN型/PNP型)
VBE、ICB0、LCE0、 IEB0、 BVCE0、 BWCBO、 BVEBO、 hFE. VCESAT.
VBESAT、VBEON
4.可控硅整流器 (晶闸管)
IGT、VGT、IH、 IL。VTM
5. 场效应管
IGSSF、IGSSR、 IGSSR、 IGSS. VDSON、 RDSON、 VGSTH、IDSS、IDON、 gFS. BVGSS .
6。光电耦合器
VF。IR、CTR、ICE0、 BVCE0、 VCESAT
7.三端稳压器
Vo、Sv. ID、IDV .及国标要求。