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光学干涉仪

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  • 公司名称上海拍频光电科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地上海市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2024/4/9 17:36:49
  • 访问次数35
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上海拍频光电科技有限公司长期专注于双频激光干涉测量技术研究及其产品开发,所涉及的双频激光器、双频干涉仪、信号处理卡、光纤耦合器等部件均自主研发。产品主要服务于半导体装备、超精密运动控制、长度计量、精密机床校准、振动、速度、加速度测试等领域。我们的核心团队由光学、机械、电子、销售等专业人员组成,均具有十多年双频激光干涉仪产品开发及其应用经验,是国内工程经验的双频激光干涉仪团队之一。SPOE为 用户提供超精密位移检测系统方案设计和产品定制服务,具备各种关键技术指标测试能力,拥有面型干涉仪、平行度检测平台、热漂移检测平台、非线性误差测试平台、转角行程测试平台等。
激光测量仪
光学干涉仪镜组将参考光束和测量光束在空间上分离,测量光束经过被测反射镜的反射后,返回干涉仪与参考光束发生干涉,被测镜的位移信号被调制成干涉信号
光学干涉仪 产品信息


光学干涉仪镜组将参考光束和测量光束在空间上分离,测量光束经过被测反射镜的反射后,返回干涉仪与参考光束发生干涉,被测镜的位移信号被调制成干涉信号

上海拍频光电科技有限公司针对多种不同的应用场合,开发出了多种类型的干涉仪镜组。

主要型号和参数如下表:

名称
型号非线性误差光学细分光学效率工作轴数工作波长
备注
单光束干涉仪CIF0102-S<4.2nmλ/2>60%1633nm后入光,体积小
单轴角锥干涉仪CIF0102<4.2nmλ/2>60%1633nm后入光
单轴差分干涉仪
CDIF0102<4.2nmλ/2>60%1633nm后入光
PDIF0104<2.2nmλ/4>50%1633nm后入光
单轴平镜干涉仪PIF0104T<2.2nmλ/4>50%1633nm后入光
PIF0104R<2.2nmλ/4>50%1633nm右入光*
PIF0104L<2.2nmλ/4>50%1633nm左入光*
单轴探针干涉仪TIF0102<4.2nmλ/2>50%1633nm后入光
双轴角锥干涉仪CIF0102<2.2nmλ/2>20%2633nm后入光
双轴平镜干涉仪PIF0204T<2.2nmλ/4>20%2633nm后入光
PIF0204R<2.2nmλ/4>20%2633nm右入光
PIF0204L<2.2nmλ/4>20%2633nm左入光
双轴差分干涉仪CDIF0202<4.2nmλ/2>20%2633nm后入光
PDIF0204<2.2nmλ/4>20%2633nm后入光
三轴角锥干涉仪CIF0302T<4.2nmλ/2>12%3633nm后入光
CIF0302R<4.2nmλ/2>12%3633nm右入光
CIF0302L<4.2nmλ/2>12%3633nm左入光
三轴平镜干涉仪PIF0304T<2.2nmλ/4>12%3633nm后入光
PIF0304R<2.2nmλ/4>12%3633nm右入光
PIF0304L<2.2nmλ/4>12%3633nm左入光
四轴平镜干涉仪PIF0404T<2.2nmλ/4>8%4633nm后入光
PIF0404R<2.2nmλ/4>8%4633nm右入光
PIF0404L<2.2nmλ/4>8%4633nm左入光
五轴平镜干涉仪PIF0504T<2.2nmλ/4>7%5633nm后入光
PIF0504R<2.2nmλ/4>7%5633nm右入光
PIF0504L<2.2nmλ/4>7%5633nm左入光


备注:右入光是指正对着干涉仪的出光面,入光在右手侧

                 左入光是指正对着干涉仪的出光面,入光在左手侧

                 特殊要求可接受定制


部分干涉仪模型如下图:


        

单光束干涉仪及其被测角锥镜      单轴平镜干涉仪(后入光)   双轴平镜干涉仪(后入光)


          

三轴平镜干涉仪(左入光)     四轴平镜干涉仪(右入光)       五轴平镜干涉仪(右入光)




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