产品|公司|采购|资讯

OMI 紫外-近红外 多功能波前传感器

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称北京费恩科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地北京市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2024/4/16 13:18:54
  • 访问次数26
产品标签:

在线询价收藏产品 进入展商展台

联系我们时请说明是 智能制造网 上看到的信息,谢谢!

北京费恩科技有限公司位于北京经济技术开发区,是一家从事专业光电精密测量测试设备的代理商。产品源于美国、波兰、意大利等,涵盖了精密测量设备、成像系统测试设备及模块、诊断工具等,可提供高精度的测厚设备、紫外到远红外整个波段的成像测试系统、红外测量系统和探测器、夏克-哈特曼波前传感器等。我们的用户覆盖了各高校、科研院所、航空航天、各类光电企业等不同领域。费恩科技拥有专业的技术团队,不仅为用户提供各类标准产品,还可根据用户的具体需求,提供完整的系统解决方案。同时,我们还拥有优秀的售后技术支持团队,可及时为用户提供售后服务,包括安装、调试、培训、技术指导等工作。费恩科技秉承“一、客户至上、服务为先”的经营理念,带领专业技术团队,为广大用户提供各类光电检测设备及解决方案,用心开拓国内市场,为光电检测行业带来的技术和服务。
OMI紫外-近红外多功能波前传感器技术规格硬件测试光学元件、激光器和激光二极管可测试的激光二极管功率几兆瓦
OMI 紫外-近红外 多功能波前传感器 产品信息

OMI 紫外-近红外

多功能波前传感器


技术规格

硬件

测试

光学元件、激光器和激光二极管

可测试的激光二极管功率

几兆瓦,更高的功率需要一个功率降低系统(可选购)

微透镜阵列数量(见如下相机)

50x50(紫外-可见光-近红外),瞳面直径10mm

标准小透镜阵列的直径和焦距

Ø  Φ=0.2mmf=22mm,适用于300-750nm的紫外-可见光波段

Ø  Φ=0.2mmf=11mm,适用于750-1100nm的近红外波段

软件

软件(控制和分析)

Sensoft适用于Win7,   Win8, Win10 64bit

Zernike系数的RMS可重复性

<2nm rmsλ/   800 @ 1050nm

模态波前测量的RMS重复性

<λ/ 100

精度和动态范围

λ/ 20-λ/ 100(取决于校准),±50λ

相机

探测器、波长范围和散热

CMOS(紫外-可见光-近红外)。无需散热。

分辨率、像素尺寸、芯片尺寸

1024×1024像素,每个像素10.6μm,10.9 x 10.9mm2

接口,A / D转换器

以太网接口,12-bits

采集速度

75 HzCCD

触发

Yes

曝光时间()

800 msec

附件

光源,扩束器和压缩器

高质量LD激光光源,附带对应波长下的整形镜,扩束镜/缩束镜


image.png            image.png
               CMOS量子效率曲线                                      紫外-可见光-近红外 OMI 

其他详情

其他详情

Ø  分辨率:1024×1024像素

Ø  分辨率:50×50()

Ø  像素尺寸:10.6μm×10.6μm

Ø  微透镜间距和焦距(紫外和可见光):0.2mm22mm

Ø  芯片尺寸:10.9mm×10.9mm

Ø  微透镜间距和焦距(近红外):0.2mm11mm

Ø  图像速率:75 Hz(解析度)

Ø  平行光校准装置:静态或动态高质量准直仪,带

Ø  饱和度:≥900000e-,信噪比:200

有对应波长下的LD/LED

Ø  曝光时间:800毫秒

Ø  电机节距:2.5μm

Ø  接口:以太网


SENSOFT:软件

Sensoft模块化软件包
Ø  可控制OMI的硬件
Ø  执行Shack-Hartmann(SH)分析

Ø  计算Zernike系数,诊断(对准和正确的焦平面),区域和模式波前,MTF,点列图

Ø  具有用于光学系统在线调整的循环模式

 

 OMI用于生产线:

Ø  带有专用PCOMI可以轻松的适应生产线

Ø  它可以与制造设备的PC形成闭环工作

软件模块定义IP通信协议,并在局域网中的PC之间传输结果

5e4e33ef9e4d6.png       5e4e33fff1e2d.png       5e4e340e75c70.png

5e4e343065bb3.png        5e4e343d05bf3.png

           快速回路中的在线校准                                                         MTF测量                    

                                                                                     除去数据中存在的倾斜和离焦的影响后的MTF 

Ø  通过连续不断地监测彗差和像散,可以轻松实现复杂光学系统的校准。

Ø  显示彗差和像散的各个(xy)部分以及总系数。

Ø  每次可以对一个组件进行优化,因为该软件可以显示一个感兴趣的组件。


带紫外-可见光相机的OMI

image.png

Ø  Φ=0.2mmfl=22mm,适用于紫外-可见光波段(300-750nm

Ø  Φ=0.2mmfl=11mm,适用于近红外波段(750-1100nm

Ø  分辨率50×50,瞳孔直径10mm

 

主体

相机:CMOS, 以太网, 12-14bits (300-1100nm)

外形尺寸:150 (L) x 82 (W) x 82 (H) mm

重量:800 g

 

主要特点


测量技术:
哈特曼波前传感器

在平行光下或单次镜头焦点测试:
平行光(带有校准装置)

对准镜头的焦点(带有针孔校准装置)

可用不同波长的光源

提供校准装置:高品质平行光源(电动或手动).针孔校准装置

配件:光源、扩束器/压缩器、准直仪

 

软件

Ø  全面波前分析:Zernikes,分区和模拟WF,点列图,MTFEEPSFM2

Ø  通过软件轻松对准镜片组:使用彗差和像散校正的图形指示

Ø  激光的稳定性:激光束聚焦的图形指示


在找 OMI 紫外-近红外 多功能波前传感器 产品的人还在看
返回首页 产品对比

提示

×

*您想获取产品的资料:

以上可多选,勾选其他,可自行输入要求

个人信息:

Copyright gkzhan.com , all rights reserved

智能制造网-工业4.0时代智能制造领域“互联网+”服务平台

对比栏