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OMI-中波红外
高速高精度波前传感器
² 采集速度高达357 Hz，分析速度高达50Hz
² 使用InSb或MCT摄像机针对MWIR波长范围进行了优化
² 单道精确计量
² 光学元件、激光器和激光二极管
² 测试任何焦距和直径（带附件）
² 大动态范围 ² 35×35采样 ² 适用于生产
技术规格 | |
硬件 | |
测试 | 光学元件、激光器和激光二极管 |
可测试的激光二极管功率 | 几兆瓦，更高的功率需要一个功率降低系统（可选购） |
微透镜阵列数量 | 35×35 |
标准微透镜阵列的直径和焦距 | （Φ=0.2mm、f=11mm）、（Φ=0.2mm、f=7mm），取决于测试波长 |
软件 | |
软件（控制和分析） | Sensoft适用于Win8, Win10 64bit |
Zernike系数的RMS可重复性 | <3nm rms（λ/ 1000 @ 3000nm） |
模态波前测量的RMS重复性 | ＞λ/ 100 |
精度和动态范围 | λ/ 20-λ/ 100（取决于校准），±50λ |
相机 | |
探测器、波长范围和散热 | InSb. 3.6μm-4.9μm（有1.5μm-5.4μm宽波段版本），斯特林制冷 MCT. 3.7μm-4.8μm（有1.5μm-6μm宽波段版本），斯特林制冷 |
分辨率、像素尺寸、芯片尺寸 | 1024×1024像素，每个像素10.6μm，10.9 x 10.9 mm2 |
接口，A / D转换器 | 以太网接口，14-bits |
采集速度 | 从117Hz到357Hz |
触发 | Yes |
曝光时间范围 | 1 微秒-几毫秒 |
附件 | |
光源，扩束器和压缩器 | 高质量LD激光光源，附带对应波长下的整形镜，扩束镜/缩束镜 |
型号 | OMI-MWIR-InSb | OMI-MWIR-InSb-Bb | OMI-MWIR-MCT | OMI-MWIR-MCT-BB |
采集速度 | 高速，357 fps | 高速，357 fps | 117 fps | 117 fps |
形状 | 矩形 | |||
相机尺寸 | 640×512 像素 像素尺寸：15μm 9.6×7.68 mm2 | |||
分辨率 | 35×35 | |||
波长范围 | 3.6 – 4.9 μm | 1.5 – 5.4 μm | 3.7 – 4.8 μm | 1.5 – 6 μm |
斯特林冷却 | Yes | |||
输出（bits） | 14 | |||
相机控制 | 以太网 | |||
工作温度（℃） | -40到+60 | |||
供电要求（V DC） | 24 | |||
功率（W） | 25 | |||
重量（相机+OMI）(kg) | 3.5+0.2=3.7 | |||
尺寸(长、宽、高)(mm) | 220×100×149 | |||
循环模式中Zernike系数 的解析速率（Hz） | 50 | |||
OMI-MWIR 硬件
MWIR InSb和MCT传感器的量子效率曲线
OMI用于生产线：
Ø 带有专用PC的OMI可以轻松的适应生产线
Ø 它可以与制造设备的PC形成闭环工作
Ø 软件模块定义IP通信协议，并在局域网中的PC之间传输结果
快速回路中的在线校准 MTF测量
除去数据中存在的倾斜和离焦的影响后的MTF
Ø 通过连续不断地监测彗差和像散，可以轻松实现复杂光学系统的校准。
Ø 显示彗差和像散的各个（x，y）部分以及总系数。
Ø 每次可以对一个组件进行优化，因为该软件可以显示一个感兴趣的组件。
