本仪器给出的参数符合GB/T 3505-2000《产品几何技术规范,表面结构,轮廓法,表面结构的术语,定义及参数》,符合GB/T 6062-2002《产品几何量技术规范(GPS)表面结构,轮廓法接触(触针)式仪器的标称特性》,适用于加工业,制造业,检测,商检等部门,尤其适用于大型工件及生产流水线的现场检验,以及检测,计量,商检等部门的外出检定。不仅可以测量外圆,平面,锥面,还可测长宽大于80x30mm的沟槽。
| Leeb451 | Leeb452 |
测量参数 | Ra、Rz、Rq、Rt | Ra、Rz |
测量范围 | Ra:0.05-10.0μm; Rz:0.1-50μm | |
取样长度 | 0.25mm、0.8mm、2.5mm; | |
评定长度 | 1.25mm、4mm、5mm | |
扫描长度 | 6mm | |
示值误差 | ≤±15% | |
示值变动性 | <12% | |
传感器类型 | 压电晶体 | |
电源 | 3.7V锂离子电池 | |
工作温度 | 0ºC- 40ºC | |
重量 | 200g | |
外型尺寸 | 106×70×24mm | |
标准配置 | 主机、电源适配器、多刻线样板(粗糙度标准块)、说明书、合格证、保修卡、质量反馈书、手提箱等 |