覆层测厚仪

TT230主要技术指标
	测量范围：0～1250μm
TT230详细技术指标
	详细介绍   TT230采用了涡流测厚法它是一种超小型的测量仪，它能快速、无损伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。可广泛用于制造业、金属加工业、商检测领域。由于该仪器体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。 具有五个统计量 可存贮15个测量值 功能描述   测量范围 0～1250μm 测量原理 涡流法 测量精度 ±（3%H+1.5）μm（零点校准）/±[（1-3）%H+1.5]μm（二点校准） 其它     1、可进行零点校准及二点校准 2、可对测头进行基本校准 3、具有五个统计量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试数（NO）、标准偏差（S.DEV）、可存贮和统计计算15个测量值 4、具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE） 5、具有自动关机功能 6、删除功能：对测量中的出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量 7、操作过程有蜂鸣声提示 8、有欠压指示功能 9、有错误提示功能

详细说明 TT230主要技术指标
测量范围：0～1250μm
TT230详细技术指标
详细介绍
TT230采用了涡流测厚法它是一种超小型的测量仪，它能快速、无损伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。可广泛用于制造业、金属加工业、商检测领域。由于该仪器体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。
具有五个统计量
可存贮15个测量值
功能描述
测量范围 0～1250μm
测量原理 涡流法
测量精度 ±（3%H+1.5）μm（零点校准）/±[（1-3）%H+1.5]μm（二点校准）
其它
1、可进行零点校准及二点校准
2、可对测头进行基本校准
3、具有五个统计量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试数（NO）、标准偏差（S.DEV）、可存贮和统计计算15个测量值
4、具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
5、具有自动关机功能
6、删除功能：对测量中的出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量
7、操作过程有蜂鸣声提示
8、有欠压指示功能
9、有错误提示功能