Olympus 45MG手持式超声波测厚仪

Olympus 45MG手持式超声波测厚仪

奥林巴斯生产的45MG是一款手持式超声测厚仪，可用于多种测厚应用。使用45MG仪器，操作人员从工件的一侧就可以在不损坏工件的情况下，测量出受腐蚀材料和带点蚀、结疤、粒状缺阶材料的厚度，以及其它难以测量材料的厚度。

45MG仪器显示厚度读数，并提供可选A扫描视图，以便用户核查波形。45MG的微处理器会持续调整接收器的设置，以使每个测量值在可靠性、范围、灵敏度和精确性方而得到优化。可选购的高级内置数据记录器zui多可存储475000个厚度测量值和2000个波形。

在单晶选项下，45MG仪器一可使用单晶探头系列中的各种探头进行操作。使用双晶探头进行操作是45MG的标准性能。45 MG可以测量厚度在0.08毫米到635.0毫米范围内的材料厚度，可测量的具体厚度取决于软件选项。被测材料的温度范围为-200到500℃ ，其体的温度要求取决于材料特性、所用探头及测量模式。

基本功能：

•     表明测量状态的标志及报警
•     四分之一VGA彩色透反LED背光显示
•     自动探头识别功能，可识别标准D79X和MTD705系列探头
•     提醒用户出现校准双回波的警告(针对双晶探头)
•     对未知材料声速和/或探头零位的校准
•     每秒20个续数的快速扫查模式
• 信号丢失（LOS）情况下，保持厚度或显示空白
• 保持zui小值和zui大值的功能
• 以值或百分比表示的、相对于设置点的厚度差值显示
• 以密码保护形式锁定功能
• 可选分辨率:低分辨率为0.1 mm，标准分辨率为0. 01mm ,高分辨率(可选)为0.001mm(不是所有探头都可以使用高分辨率选项)

可选功能

•     单晶探头
•     回波到回波测量和穿透涂层测量
•     用于低频单晶探头的高穿透软件
•     A扫描或波形显示

    一用于验证关键性测量的实时A扫描波形显示

    一手动冻结模式，有助于进行后处理操作

    一手动控制波形显示图像的放大操作和范围调整

    一信号丢失(LOS)时的自动保持功能及自动放大功能〔被测回波的居中显示)

    一扩展空白

    一回波到回波模式下，*个接收到的回波后的空白

    一接收器增益读数

    一可在扫查测量过程中，捕获并显示zui小厚度读数的波形

    一显示存储及下载的波形(仅在其有数据记录器选项的情况卜)

一手动增益调整，步距为1 dB

• 内置数据记录器的功能

一内置数据存储，可将数据导出到可插拔microSD存储卡中

一可存储475000个*备档的厚度读数，或20000个带有厚度读数的波形

一数据库增强功能，可使用32位字符对文件命名，使用20位字符对ID码命名

一自动ID码根据预置的序列增量，或使用键盘以手动方式编辑ID码

一将读数/波形保存到ID码下

一在显示当前的厚度读数和波形时，同时显示ID码及存储的参考厚度值

一5种可用的文件格式

一删除所选数据或全部存储的数据

一标准USB双向通信