铜上镀镍X射线测厚仪

铜上镀镍X射线测厚仪:检测范围：0.5-30um

X-RAY电镀膜厚仪

产地：韩国

品牌：微先锋Ｍicro Pioneer

型号：XRF-2020

名称：X射金属镀层测厚仪

功能：检测电镀层厚度，可测单镀层，双镀层，多镀层，合金镀层等

测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯，镀铬,镀锌镍合金等

检测电镀层厚度范围0.03-35um

XRF-2020镀层测厚仪三款型号

XRF-2020测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm，长宽55cm.

XRF-2020测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm，长宽55cm.

XRF-2020测厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm 开放式设计。

韩国XRF-2020测厚仪仪器配置

 全自动台面

自动雷射对焦

多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）

测量样品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以内四种规格可选

镀层厚度测试范围：0.03－35um

可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度

每层镀层都可分开显示各自厚度.

测量时间：10－30秒

韩国XRF-2020膜厚仪精度控制：

X-RAY电镀层膜厚仪

*层：±5%以内，第二层：±8%以——第三层：±15%以内

XRF-2020金属镀层测厚仪

韩国XRF-2020测厚仪用途提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱*

同比其他牌子相同配置的机器，XRF2020为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果

甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，

可测量较大的产品。应用于线路板、五金电镀、首饰、端子等行业。可测量各类金属层、合金层厚度等。

韩国XRF-2020测厚仪用途可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U） 原子序 22 – 92

准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm

自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm

电脑系统：彩色打印机

综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能

XRF-2020金属镀层测厚仪

1、测量的厚度范围为0.03微米～35微米。

2、可满足的测量镀种

   镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍等

3、可满足单镀层、双镀层、多镀层、合金镀层测量，不限底料。

铜上镀镍X射线测厚仪:检测范围：0.5-30um