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大功率IGBT测试仪

参考价 ¥ 29999
订货量 ≥1
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  • 公司名称西安天光测控技术有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       号ST-SP_2010
  • 所  在  地西安市
  • 厂商性质生产厂家
  • 更新时间2023/9/15 14:49:34
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西安天光测控技术有限公司 是一家专业从事 半导体功率器件测试设备 研发、生产、销售的*。产品有半导体分立器件测试筛选系统。Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOS , DIODE , BJT , SCR的电参数及可靠性和老化测试。

产品包括静态单脉冲(包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数)动态双脉冲(包括Turn_ON_L, Turn_OFF_L , FRD , Qg)Rg , UIS , SC , C, RBSOA 等。环境老化测试(包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等)热特性测试(包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等)各类全系列测试设备。广泛应用于半导体器件上游产业(设计、制造、封装、IDM厂商、晶圆、DBC衬板)和下游产业(院所高校、电子厂、轨道机车、新能源汽车、白色家电等元器件的应用端产业链)。


公司团队汇集了来自国内*院校及电力电子行业的专家教授。拥有众多*的革命性创新技术。产品成熟可靠,久经市场考验,在替代进口产品方面有着突出的优势。公司从产品到服务,从技术咨询到现场支持,可覆盖功率器件的初始研发到规模化生产的整个领域。


      展望未来,公司将全力发挥自身技术优势,为客户提供*专家级的技术支持以及更多的经典产品。



半导体分立器件测试筛选系统|IGBT静态参数测试仪|IGBT动态参数测试仪| 功率循环试验台|高温反偏差测试系统
ST-SP2010 功率器件静态参数测试系统
用于测试 IGBTs,MOSFETs, Diode,静态直流参数
3000V/2000A
大功率IGBT测试仪 产品信息

产品系列
晶体管图示仪

半导体分立器件测试筛选系统

静态参数测试仪(包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等)

动态参数测试仪(包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等)

环境老化测试(包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等)

热特性测试(包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)

可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件




ST-SP2010功率器件静态参数测试系统

用于测试 IGBTs,MOSFETs, Diode,静态直流参数

3000V/2000A





产品简述


 ST-SPX系列产品是主要针对半导体功率器件的静态参数测试而开发设计。通过DUT适配器的转换,可实现对各种封装形式的 IGBTs,MOSFETs,DIODEs 等半导体器件的静态电参数测试,包括器件、模块以及DBC衬板和晶圆。

设备融入了自动化及智能化的设计理念及功能,支持批量上下料并进行全自动测试。用于规模化量产可节省人力并提高测试产能,适合产线量测以及器件研发设计阶段的实验室测试,设备由主控计算机操控,测试数据自动上传以及保存。测试能力包含输出特性、转移特性、击穿特性、漏电流、阈值电压、二极管压降等。产品功能及输出功率进行了模块化设计,满足用户潜在的后期需求,测试电压电流可扩展至10KV/10KA,变温测试支持常温到200℃。



测试能力


产品特点
 产品以2000A为一个电流模块,以1000V为一个电压模块,可升级到10KA/10KV.

 可以连接探针台做 wafer / chip 测试,也可以安装夹具及适配器做模块测试

 针对不同结构的封装外观,通过更换 DUT适配器即可

 可进行室温~200℃变温测试,也可实现子单元测试功能

 测试软件具有实验模式和生产模式,测试数据可存储为Excel文件

 栅极电阻可任意调整

 系统测试性能稳定,适合大规模生产测试应用(24hr 工作)

 支持半自动和全自动测试

 采用品牌工控机,具有抗电磁*力强,排风量大等特点

 安全稳定(PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁)

 自动化,单机测试时只需手动放置DUT,也可连接机械选件实现自动化测试线

 智能化,通过主控计算机进行操控及数据编辑,测试结果自动保存及上传局域网

 安全性,防爆,防触电,防烫伤,短路保护等多重保护措施,确保操作人员、设备、数据及样品安全。













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