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ATS-710EinTEST 高低温冲击热流仪,半导体芯片测试
￥400000
伯东企业（上海）有限公司
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产品简介
| 类型 | 热流仪 | 温度测试范围 | -75至+225 |
|---|
产品介绍
因产品配置不同, 价格货期需要电议, 图片仅供参考, 一切以实际成交合同为准
上海伯东代理美国 inTEST 高低温冲击热流仪兼容各品牌半导体测试机, 可正确评估与参数标定芯片开发, 器件或模块研发, 品质检查, 第三方认证, 失效分析, FAE 等几乎所有流程, 高低温冲击测试作为一种常见的测试手段, 适用于 IGBT, MOSFET, 三极管, 二极管等各类半导体特性测试..jpg)
inTEST 高低温冲击热流仪特性
1. 变温速率更快, 每秒可快速升温/降温 15 °C
2. 温控精度: ±1℃
3. 实时监测待测芯片真实温度, 可随时调整冲击气流温度
4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件
5. 对测试机平台 load board上 的 IC 进行温度循环 / 冲击; 传统高低温箱无法针对此类测试
6. 对整块集成电路板提供准确且快速的环境温度
7. inTEST 热流仪兼容各品牌半导体测试机, 通讯方便, 无异常中断风险, 可连续运行.
inTEST 高低温冲击热流仪型号
型号 | BT 28 | ATS-545 | ATS-710E | ECO-710E | ATS-535 |
类型 | 桌面型 | 移动式 | 移动式 | 移动式 | 移动式 |
温度范围 °C | -28 至 +225 | -75 至 + 225 | -75至+225 | -80 至 +225 | -60 至 +225 |
变温速率 | -10 至 +125°C, 约 10 S | -55 至 +125°C 约 10 S | -55 至 +125°C 约 10 s | -55 至 +125°C, ≤ 10S | -40至+ 125°C < 12 s |
空压机 | 根据应用选配 | 额外另配 | 额外另配 | 额外另配 | 内部集成空压机 |
控制方式 | 触摸屏 | 旋钮式 | 触摸屏 | 触摸屏 | 旋钮式 |
气体流量 scfm | 4-14 | 4 至 18 | 4 至 18 | 4 至18 SCFM | 5 |
温度显示和分辨率 | +/- 0.1°C | ||||
温度精度 | 1.0°C（根据 NIST 标准校准时） | ||||
电源 | 200-230V +/-10% VAC, 50 Hz, 15 A | 200-250VAC | 200-250VAC | 200-250VAC | 220±10%VAC |
上海伯东美国 inTEST 高低温冲击热流仪广泛应用于车载芯片及器件, 电源芯片, 功率器件, 通信芯片, 光纤收发器等温度冲击测试.
美国 inTEST ThermoStream 系列高低温冲击热流仪, 温度冲击范围 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防静电设计, 不需要 LN2 或 LCO2 冷却, 温度显示精度: ±1℃, 通过 NIST 校准. 通过 ISO 9001, CE, RoHS 认证. inTEST 热流仪提供适用于 RF 射频, 微波, 电子, 功率器件, 通信芯片等温度测试, 满足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯东是美国 inTEST 中国总代理.
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inTEST 高低温冲击热流仪,半导体芯片测试
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